[發明專利]一種航天器組件的極弱剩磁測量系統及測量方法

在審

• 申請號: 202111246948.1
• 申請日: 2021-10-26
• 公開（公告）號: CN113866692A
• 公開（公告）日: 2021-12-31
• 發明（設計）人: 肖琦;徐超群;耿曉磊;劉超波;孟立飛;李娜;張艷景;王琪;易忠;黃魁;王斌
• 申請（專利權）人: 北京衛星環境工程研究所
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理事務所(普通合伙) 11435
• 代理人: 郭棟梁

1.一種航天器組件極弱剩磁測量系統，其特征在于，包括屏蔽筒、無磁轉臺系統和數據采集分析系統；所述無磁轉臺系統包括：無磁支架，電機，無磁高速轉臺，樣品工裝；所述數據采集分析系統包括：磁通門傳感器、原子磁力儀、數采設備和計算機，用于記錄和計算磁信息。

2.如權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述屏蔽筒為圓柱形鐵鎳合金屏蔽筒，所述屏蔽筒兩端為中心開有通孔的屏蔽蓋，分別為第一屏蔽蓋和第二屏蔽蓋，整個所述屏蔽筒放置于無磁臺上。

3.如權利要求2所述的測量系統，其特征在于，所述無磁支架位于所述屏蔽筒外側，上面安裝電機；所述樣品工裝連接在所述無磁高速轉臺之上，位于屏蔽筒內；所述無磁高速轉臺通過傳動系統，穿過所述第一屏蔽蓋上的所述通孔和所述電機相連。

4.如權利要求2所述的測量系統，其特征在于，所述磁通門傳感器和所述原子磁力儀位于所述屏蔽筒內部，用于采集樣品的磁數據，使用數據線，通過所述通孔穿過所述第二屏蔽蓋與所述數采設備相連，所述數采設備和所述計算機連接。

5.一種利用權利要求1-4任一項所述測量系統測量航天器組件極弱剩磁的測量方法，包括以下步驟：

a.將整個系統放置于待測區域；

b.打開所述第一屏蔽蓋，連接好所述數據采集分析系統，然后蓋上所述第一屏蔽蓋；

c.打開所述第二屏蔽蓋，將樣品放置于樣品工裝上，然后蓋上所述第二屏蔽蓋；

d.按實驗要求的轉速開啟所述電機，等待電機旋轉穩定；

e. 所述數據采集分析系統采集磁場頻率普信息，通過分離、轉化和計算得出磁場強度、磁矩信息；

f.計算結束后由所述計算機輸出結果和圖形；

g.關掉電源，拿出樣品，結束測試。