[發(fā)明專利]電機(jī)額定負(fù)載的測試方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111245359.1
• 申請(qǐng)日: 2021-10-26
• 公開（公告）號(hào): CN114035044B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳浩;王威
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 日立樓宇技術(shù)（廣州）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/34
• 分類號(hào): G01R31/34
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 鄭宏謀

1.一種電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

確定抱閘鎖緊所述電機(jī)，控制所述電機(jī)與負(fù)載模塊連接；

獲取測試參數(shù)，其中，所述測試參數(shù)包括所述負(fù)載模塊的預(yù)設(shè)輸出力矩和電機(jī)的預(yù)設(shè)輸出轉(zhuǎn)速；

根據(jù)所述測試參數(shù)，控制所述負(fù)載模塊輸出力矩；

確定所述負(fù)載模塊的輸出力矩到達(dá)測試參數(shù)所需要的預(yù)設(shè)輸出力矩且所述負(fù)載模塊輸出力矩維持穩(wěn)定不再突變，以使所述電機(jī)在靜止?fàn)顟B(tài)下具有額定負(fù)載，控制所述抱閘松開所述電機(jī)；

根據(jù)所述測試參數(shù)，控制所述電機(jī)輸出預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速；

記錄所述電機(jī)的運(yùn)行參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，所述負(fù)載模塊包括：負(fù)載電機(jī)或磁粉制動(dòng)器。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試參數(shù)，控制所述負(fù)載電機(jī)輸出預(yù)設(shè)力矩這一步驟，包括：

根據(jù)所述測試參數(shù)設(shè)置負(fù)載變頻器；

通過所述負(fù)載變頻器控制所述負(fù)載電機(jī)輸出預(yù)設(shè)力矩。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試參數(shù)，控制所述電機(jī)輸出預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速這一步驟，包括：

根據(jù)所述測試參數(shù)設(shè)置測試變頻器；

通過所述測試變頻器控制所述電機(jī)輸出預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，所述控制所述電機(jī)與負(fù)載模塊連接這一步驟，具體包括：

通過萬向聯(lián)軸器將所述電機(jī)與負(fù)載模塊進(jìn)行連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，在所述記錄所述電機(jī)的運(yùn)行參數(shù)這一步驟后，還包括：

確定所述電機(jī)的運(yùn)行參數(shù)出現(xiàn)異常，生成報(bào)警信號(hào)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，在所述記錄所述電機(jī)的運(yùn)行參數(shù)之后，還包括：

將所述運(yùn)行參數(shù)進(jìn)行可視化顯示。

8.一種電機(jī)額定負(fù)載的測試系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法，其特征在于，包括：

電機(jī)；

負(fù)載模塊，所述電機(jī)與所述負(fù)載模塊連接；

抱閘，用于鎖緊所述電機(jī)；

輸入模塊，用于獲取測試參數(shù)，其中，所述測試參數(shù)包括負(fù)載模塊的預(yù)設(shè)輸出力矩和電機(jī)的預(yù)設(shè)輸出轉(zhuǎn)速；

控制模塊，用于根據(jù)所述測試參數(shù)，控制所述負(fù)載模塊輸出力矩；根據(jù)所述測試參數(shù)，控制所述電機(jī)輸出預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速；記錄所述電機(jī)的運(yùn)行參數(shù)。

9.一種電機(jī)額定負(fù)載的測試裝置，其特征在于，包括：

至少一個(gè)處理器；

至少一個(gè)存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)至少一個(gè)程序；

當(dāng)所述至少一個(gè)程序被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行，使得所述至少一個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中存儲(chǔ)有處理器可執(zhí)行的指令，其特征在于，所述處理器可執(zhí)行的指令在由處理器執(zhí)行時(shí)用于實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的電機(jī)額定負(fù)載的測試方法。