[發(fā)明專利]光學(xué)相干層析系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111211605.1
• 申請日: 2021-10-18
• 公開（公告）號(hào): CN113940631A
• 公開（公告）日: 2022-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 安其昌;劉欣悅;李洪文;張景旭;王建立;陳濤
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所
• 主分類號(hào): A61B5/00
• 分類號(hào): A61B5/00;A61B3/12
• 代理公司: 長春中科長光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 22218
• 代理人: 高一明

1.一種光學(xué)相干層析系統(tǒng)，包括頻域光學(xué)相干層析裝置、自適應(yīng)光學(xué)裝置、耦合器和光接收裝置，其特征在于，所述頻域光學(xué)相干層析裝置的參考臂的數(shù)量為N，探測臂的數(shù)量與所述參考臂的數(shù)量相匹配；其中，N≥2；

所述測量臂中的測量光束進(jìn)入所述自適應(yīng)光學(xué)裝置，所述測量光束掃描待測物后所輸出的光信號(hào)通過所述耦合器耦合至所述頻域光學(xué)相干層析裝置的所述探測臂，所述光信號(hào)經(jīng)微透鏡陣列分為N路測量信號(hào)，所述N路測量信號(hào)分別進(jìn)入相應(yīng)的探測臂；所述N路測量信號(hào)分別與所述參考臂中的N路參考信號(hào)進(jìn)行干涉，形成的N路干涉信號(hào)傳送至N個(gè)陣列波導(dǎo)光柵進(jìn)行分光，分光后的干涉信號(hào)入射至光電探測器進(jìn)行成像。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，所述探測臂包括依次連接的探頭、模分復(fù)用器件和單模光纖。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，所述模分復(fù)用器件為光子燈籠。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，所述探頭為多模光纖，所述多模光纖的數(shù)量為M，所述光子燈籠的數(shù)量與所述多模光纖的數(shù)量相匹配，所述多模光纖的一端作為探頭進(jìn)行探測，所述多模光纖的另一端與所述光子燈籠的一端相連接，所述光子燈籠的另一端與所述單模光纖連接，所述單模光纖與所述耦合器相連接；其中，M≥2。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，對所述光子燈籠出射的光信號(hào)和所述單模光纖出射的光信號(hào)進(jìn)行標(biāo)校。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，還包括起偏器或偏振片，所述單模光纖出射的光信號(hào)進(jìn)入所述起偏器或所述偏振片進(jìn)行偏振調(diào)制。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，還包括保偏光纖，所述起偏器或所述偏振片出射的光信號(hào)進(jìn)入所述保偏光纖。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，所述參考臂包括光子燈籠和衰減片，所述光子燈籠出射的參考信號(hào)經(jīng)所述衰減片進(jìn)行衰減。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，所述光電探測器為與所述陣列波導(dǎo)光柵數(shù)量相匹配的點(diǎn)型光電探測器。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干層析系統(tǒng)，其特征在于，還包括透鏡，所述陣列波導(dǎo)光柵進(jìn)行分光，分光后的干涉信號(hào)經(jīng)所述透鏡會(huì)聚后傳送至所述光電探測器進(jìn)行成像。