[發(fā)明專利]一種高溫非接觸變形測量的精度檢定方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111203349.1 | 申請日: | 2021-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN113984495A | 公開(公告)日: | 2022-01-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張悅;許巍;于慧臣;劉帥;何玉懷;賈崇林;郭廣平 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航發(fā)北京航空材料研究院 |
| 主分類號: | G01N3/02 | 分類號: | G01N3/02;G01N3/06;G01N3/18;G01B11/16 |
| 代理公司: | 中國航空專利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
| 地址: | 100095 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高溫 接觸 變形 測量 精度 檢定 方法 | ||
1.一種高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,包括以下步驟:
(1)制成帶有凸耳的板型蠕變試樣,在其表面制備與待檢定的非接觸變形測量裝置視場匹配的高溫散斑;
(2)將陶瓷套環(huán)套在蠕變試樣的凸耳上,并將陶瓷套環(huán)與陶瓷桿連接,追蹤凸耳的相對位移;
(3)將蠕變試樣安裝在持久蠕變試驗機上,施加預(yù)緊力,并進行加熱;
(4)對蠕變試樣進行分級加載,加載后用非接觸變形測量裝置采集數(shù)字圖像,獲得參考圖像以及各個載荷對應(yīng)的圖像;
(5)計算加載過程中試樣標(biāo)距段的位移,并除以標(biāo)距段的像素長度,獲得應(yīng)變測量值;
(6)加載過程中追蹤凸耳的位移,并除以標(biāo)距段的長度,獲得應(yīng)變對照值;
(7)通過多級加載獲得不同載荷水平的應(yīng)變測量值與應(yīng)變對照值,計算絕對誤差和相對誤差,確定其精度等級。
2.按照權(quán)利要求1所述的高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,其中步驟(1)中,所述高溫散斑的制備包括根據(jù)待檢定的非接觸變形測量裝置的視場大小,選擇合適的散斑顆粒大小和密度,模擬生成虛擬散斑圖,在塑封布上打印散斑圖,利用腐蝕液對塑封布進行腐蝕;將腐蝕后的塑封布粘貼在試樣表面,將高溫散斑涂在試樣表面,待粘貼牢固并固化,去除塑封布,即獲得表現(xiàn)良好的高溫散斑。
3.按照權(quán)利要求2所述的高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,其中散斑顆粒大小為CCD成像中4pixel所對應(yīng)實際尺寸,散斑密度范圍為30%~80%。
4.按照權(quán)利要求2所述的高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,其中虛擬散斑圖是根據(jù)選擇的散斑顆粒大小和密度,采用matlab軟件生成的。
5.按照權(quán)利要求1所述的高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,其中步驟(2)中,加載過程中利用位移傳感器追蹤陶瓷桿的相對位移,陶瓷套環(huán)采用側(cè)方位裝夾,避免對光學(xué)測量路徑進行遮擋。
6.按照權(quán)利要求1所述的高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,其中步驟(3)中,所述加熱采用帶有光學(xué)觀察窗的高溫爐進行。
7.按照權(quán)利要求1所述的高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,其中步驟(4)中,分級加載采用砝碼進行,從而產(chǎn)生多級水平真應(yīng)變用于非接觸變形測量裝置的精度檢驗。
8.按照權(quán)利要求1所述的高溫非接觸變形測量的精度檢驗方法,其中所述待檢定的非接觸變形測量裝置包括基于數(shù)字圖像相關(guān)法、電子散斑干涉法、云紋干涉法、相干梯度敏感干涉法的非接觸變形測量裝置。
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