[發(fā)明專利]一種手表的防磁測試方法、系統(tǒng)及電子設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111199480.5
• 申請日: 2021-10-14
• 公開（公告）號: CN114063430B
• 公開（公告）日: 2022-06-21
• 發(fā)明（設計）人: 馬濤;董偉軒
• 申請（專利權(quán)）人: 天王電子（深圳）有限公司
• 主分類號: G04D7/00
• 分類號: G04D7/00
• 代理公司: 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414
• 代理人: 梁姍

1.一種手表的防磁測試方法，其特征在于，包括：

獲取手表在無磁場環(huán)境中運行時的第一參數(shù)，其中，所述第一參數(shù)包括第一瞬時日差、第一擺幅和第一偏振中的至少一個；

在所述手表由所述無磁場環(huán)境進入有磁場環(huán)境再進入所述無磁場環(huán)境后，獲取所述手表在所述無磁場環(huán)境中時的第二參數(shù)，其中，所述第二參數(shù)的類別與所述第一參數(shù)的類別相同；

基于所述第一參數(shù)和所述第二參數(shù)，得到所述手表的防磁系數(shù)，所述防磁系數(shù)用于表示所述手表的防磁性能；

在所述獲取手表在無磁場環(huán)境中運行時的第一參數(shù)之前，包括：

向磁場發(fā)生設備發(fā)送第一指令，其中，所述第一指令用于指示所述磁場發(fā)生設備產(chǎn)生退磁磁場，所述退磁磁場用于對所述手表進行退磁處理；

在發(fā)送所述第一指令后的第一預設時間之后，向所述磁場發(fā)生設備發(fā)送第二指令，其中，所述第二指令用于指示所述磁場發(fā)生設備停止運行。

2.如權(quán)利要求1所述的手表的防磁測試方法，其特征在于，若所述第一參數(shù)包括所述第一瞬時日差，所述第二參數(shù)包括第二瞬時日差，所述基于所述第一參數(shù)和所述第二參數(shù)，得到所述手表的防磁系數(shù)，包括：

計算所述第一瞬時日差與所述第二瞬時日差的第一差值，其中，所述防磁系數(shù)包括所述第一差值。

3.如權(quán)利要求1所述的手表的防磁測試方法，其特征在于，所述獲取手表在無磁場環(huán)境中運行時的第一參數(shù)，包括：

獲取聲音處理模塊發(fā)送的第一參數(shù)，其中，所述第一參數(shù)為所述聲音處理模塊基于聲音傳感器發(fā)送的第一表音信號得到的，所述第一表音信號為所述手表在所述無磁場環(huán)境中運行時，所述聲音傳感器采集所述手表發(fā)出的聲音后產(chǎn)生的信號。

4.如權(quán)利要求1所述的手表的防磁測試方法，其特征在于，在所述獲取手表在無磁場環(huán)境中運行時的第一參數(shù)之后，在需要采集手表在有磁場環(huán)境中運行時的第三參數(shù)時，包括：

向所述磁場發(fā)生設備發(fā)送第三指令，其中，所述第三指令用于指示所述磁場發(fā)生設備產(chǎn)生預設時間的直流磁場，所述手表在所述有磁場環(huán)境中運行所述預設時間，所述手表處于所述直流磁場中時所述手表在所述有磁場環(huán)境中。

5.如權(quán)利要求1至4任一項所述的手表的防磁測試方法，其特征在于，在獲取所述手表在所述無磁場環(huán)境中時的第二參數(shù)之前，所述方法還包括：

在所述手表由所述無磁場環(huán)境進入所述有磁場環(huán)境后，獲取所述手表在所述有磁場環(huán)境中時的第三參數(shù)，其中，所述第三參數(shù)包括第三瞬時日差、第三擺幅和第三振中的至少一個；

基于所述第三參數(shù)，確定所述手表的走動狀態(tài)；

相應的，在所述手表由所述無磁場環(huán)境進入有磁場環(huán)境再進入所述無磁場環(huán)境后，獲取所述手表在所述無磁場環(huán)境中時的第二參數(shù)，包括：

在確定所述手表的走動狀態(tài)為運行狀態(tài)、且所述手表由所述無磁場環(huán)境進入有磁場環(huán)境再進入所述無磁場環(huán)境后，獲取所述手表在所述無磁場環(huán)境中時的第二參數(shù)；

相應的，若所述第三參數(shù)中包括與所述第一參數(shù)類別相同的參數(shù)，基于所述第一參數(shù)和所述第二參數(shù)，得到所述手表的防磁系數(shù)，包括：

基于所述第一參數(shù)、所述第二參數(shù)和所述第三參數(shù)，得到所述手表的防磁系數(shù)。