[發明專利]顯示面板的調試方法、顯示設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202111199134.7 | 申請日: | 2021-10-14 |
| 公開(公告)號: | CN113643658B | 公開(公告)日: | 2022-01-14 |
| 發明(設計)人: | 周滿城;熊志;康報虹 | 申請(專利權)人: | 惠科股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/32 | 分類號: | G09G3/32;G09G3/3208;G09G3/00 |
| 代理公司: | 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414 | 代理人: | 李艷麗 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區石巖街道石龍社區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 調試 方法 設備 存儲 介質 | ||
本申請適用于顯示技術領域,提供了一種顯示面板的調試方法、顯示設備及存儲介質。上述方法可以通過顯示預設檢測畫面檢測顯示面板是否出現余暉現象,若顯示面板出現余暉現象可以定位出現余暉現象的所有區域,并可以確定有概率導致顯示面板出現余暉現象的目標掃描線,通過縮短目標掃描線的打開時長,可以減少目標掃描線出現寄生電容的概率,或者可以減少目標掃描線生成的寄生電容中存儲的電荷量,還可以增加寄生電容進行電荷釋放的時間,從而緩解或消除余暉現象,提升顯示效果。
技術領域
本申請屬于顯示技術領域,尤其涉及一種顯示面板的調試方法、顯示設備及存儲介質。
背景技術
隨著顯示技術的快速發展,顯示面板在娛樂、教育、安防等各種領域得到廣泛應用,用戶對顯示面板的顯示效果要求也逐漸提高。
目前的顯示面板在一條掃描線從輸出高電平信號切換至輸出低電平信號時,上述一條掃描線容易殘留有電壓并生成寄生電容,導致其他掃描線上連接的關斷的發光二極管,有概率在寄生電容的耦合作用下導通并發光,使得顯示面板上應保持黑暗的區域出現余暉現象,影響顯示效果。
發明內容
有鑒于此,本申請實施例提供了顯示面板的調試方法、顯示設備及存儲介質,以解決現有的發光二極管有概率在寄生電容的耦合作用下導通并發光,使得顯示面板上應保持黑暗的區域出現余暉現象,影響顯示效果的問題。
本申請實施例的第一方面提供了一種顯示面板的調試方法,包括:
根據預設檢測畫面信號,驅動所述顯示面板顯示預設檢測畫面;
檢測所述顯示面板是否出現余暉現象;
若所述顯示面板出現余暉現象,定位所述顯示面板中出現余暉現象的所有區域,每個所述區域包括至少一行像素;
確定與每個所述區域對應的至少一條目標掃描線,每條所述目標掃描線用于驅動行序號小于對應區域的所有行像素的最小行序號的一行目標像素;
縮短每條所述目標掃描線的打開時長。
本申請實施例的第二方面提供了一種顯示設備,包括顯示面板、存儲器、處理器、存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序;
所述存儲器、所述處理器和所述顯示面板依次連接,所述處理器執行所述計算機程序時實現本申請實施例的第一方面提供的顯示面板的調試方法的步驟。
本申請實施例的第三方面提供了一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執行時實現本申請實施例第一方面提供的顯示面板的調試方法的步驟。
本申請實施例的第一方面提供一種顯示面板的調試方法,通過顯示預設檢測畫面檢測顯示面板是否出現余暉現象,若顯示面板出現余暉現象可以定位出現余暉現象的所有區域,并可以確定有概率導致顯示面板出現余暉現象的目標掃描線,通過縮短目標掃描線的打開時長,可以減少目標掃描線出現寄生電容的概率,或者可以減少目標掃描線生成的寄生電容中存儲的電荷量,還可以增加寄生電容進行電荷釋放的時間,從而緩解或消除余暉現象,提升顯示效果。
可以理解的是,上述第二方面和第三方面的有益效果可以參見上述第一方面中的相關描述,在此不再贅述。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本申請實施例一提供的顯示設備的結構示意圖;
圖2是本申請實施例一提供的顯示面板的結構示意圖;
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