[發(fā)明專利]一種振動探測器在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111190356.2 | 申請日: | 2021-10-13 |
| 公開(公告)號: | CN114235130A | 公開(公告)日: | 2022-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李國強 | 申請(專利權(quán))人: | 李國強 |
| 主分類號: | G01H9/00 | 分類號: | G01H9/00;G01N21/45;G01N21/41 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 250000 山東省濟南*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 振動 探測器 | ||
1.一種振動探測器,其特征在于,包括一維光子材料、彈簧以及兩個連接條;
所述一維光子材料設(shè)置在所述彈簧上方;所述一維光子材料由兩種不同折射率的材料層交替堆疊組成;
所述一維光子材料內(nèi)設(shè)置有縫隙,所述縫隙將所述一維光子材料分割為第一部分和第二部分,所述第二部分與所述彈簧連接;
兩個所述連接條一端分別固定設(shè)置在所述第一部分兩側(cè),兩個所述連接條另一端分別活動設(shè)置在所述第二部分兩側(cè);兩個所述連接條與所述縫隙組成封閉腔體;
所述縫隙內(nèi)設(shè)置有檢測氣體,振動不同時,所述縫隙大小不同,所述縫隙內(nèi)檢測氣體的折射率不同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動探測器,其特征在于,設(shè)置在所述一維光子材料下方一端的彈簧的彈力與設(shè)置在所述一維光子材料下方另一端的彈簧的彈力不同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動探測器,其特征在于,所述第一部分下方設(shè)置有磁性薄膜,所述第二部分上方設(shè)置有磁性薄膜,所述第一部分下方設(shè)置的磁性薄膜與所述第二部分上方設(shè)置的磁性薄膜設(shè)置相對設(shè)置且均設(shè)置在所述縫隙內(nèi);所述第一部分下方設(shè)置的磁性薄膜與所述第二部分上方設(shè)置的磁性薄膜磁性相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動探測器,其特征在于,所述第一部分下方兩端均設(shè)置有磁性薄膜,所述第二部分上方兩端均設(shè)置有磁性薄膜,所述第一部分下方兩端設(shè)置的磁性薄膜與所述第二部分上方兩端設(shè)置的磁性薄膜分別設(shè)置相對設(shè)置且均設(shè)置在所述縫隙內(nèi);位于所述一維光子材料一側(cè)的兩個磁性薄膜磁性相同,位于所述一維光子材料另一側(cè)的兩個磁性薄膜磁性相反。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動探測器,其特征在于,還包括光源和第一光譜檢測儀與光探測器;
所述光源用于發(fā)出能照射到所述第一部分的光;
所述第一光譜檢測儀與光探測器用于檢測照射到所述第一部分的光在所述第一部分、所述縫隙和所述第二部分中的反射光進行干涉后的干涉光譜。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的振動探測器,其特征在于,還包括第二光譜檢測儀與光探測器;
所述第二光譜檢測儀與光探測器用于檢測照射到所述第一部分的光透射所述第一部分、所述縫隙和所述第二部分后的透射光譜。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動探測器,其特征在于,所述一維光子材料由二氧化硅材料層和聚甲基戊烯材料層交替堆疊組成。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動傳感器,其特征在于,所述檢測氣體為六氟化硫。
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