[發(fā)明專利]一種測試處理方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111180945.2 | 申請日: | 2021-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN113849411A | 公開(公告)日: | 2021-12-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊政鴻;劉磊;平曉麗 | 申請(專利權(quán))人: | 掛號網(wǎng)(杭州)科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孔凡紅 |
| 地址: | 311200 浙江省杭州市蕭山區(qū)蕭山*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測試 處理 方法 裝置 存儲 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種測試處理方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備。該方法包括:接收前端發(fā)送的測試請求,其中,所述測試請求中包括設(shè)備標(biāo)識;基于所述設(shè)備標(biāo)識和用戶?設(shè)備映射關(guān)系確定未登錄用戶的測試數(shù)據(jù);基于所述設(shè)備標(biāo)識確定未登錄用戶的測試方案;根據(jù)所述未登錄用戶的測試數(shù)據(jù)對所述未登錄用戶的測試方案進(jìn)行測試。上述技術(shù)方案,通過設(shè)備標(biāo)識確定未登錄用戶的測試方案和測試數(shù)據(jù),并基于未登錄用戶的測試方案和測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試,實(shí)現(xiàn)了對歷史用戶中的未登錄用戶進(jìn)行測試,使測試的用戶更加全面,并根據(jù)未登錄用戶的測試結(jié)果提升未登錄用戶的用戶體驗(yàn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種測試處理方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備。
背景技術(shù)
為了更好的提高產(chǎn)品質(zhì)量和用戶體驗(yàn),很多公司在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中通常采用AB測試的方式來不斷的優(yōu)化網(wǎng)頁或APP內(nèi)的搜索推薦策略、模型以來為用戶提供更好的使用體驗(yàn)。
但是在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在以下技術(shù)問題:目前AB測試方法只能針對已登錄的用戶,測試用戶不全面,無法實(shí)現(xiàn)對所有歷史用戶的測試,用戶體驗(yàn)較差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種測試處理方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備,以實(shí)現(xiàn)對未登錄用戶進(jìn)行測試,為未登錄用戶提供更好的使用體驗(yàn)。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測試處理方法,包括:
接收前端發(fā)送的測試請求,其中,所述測試請求中包括設(shè)備標(biāo)識;
基于所述設(shè)備標(biāo)識和用戶-設(shè)備映射關(guān)系確定未登錄用戶的測試數(shù)據(jù);
基于所述設(shè)備標(biāo)識確定未登錄用戶的測試方案;
根據(jù)所述未登錄用戶的測試數(shù)據(jù)對所述未登錄用戶的測試方案進(jìn)行測試。
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種測試處理裝置,包括:
請求接收模塊,用于接收前端發(fā)送的測試請求,其中,所述測試請求中包括設(shè)備標(biāo)識;
數(shù)據(jù)確定模塊,用于基于所述設(shè)備標(biāo)識和用戶-設(shè)備映射關(guān)系確定未登錄用戶的測試數(shù)據(jù);
方案確定模塊,用于基于所述設(shè)備標(biāo)識確定未登錄用戶的測試方案;
方案測試模塊,用于根據(jù)所述未登錄用戶的測試數(shù)據(jù)對所述未登錄用戶的測試方案進(jìn)行測試。
第三方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備包括:
一個(gè)或多個(gè)處理器;
存儲裝置,用于存儲一個(gè)或多個(gè)程序,
當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行,使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例中任一所述的測試處理方法。
第四方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種包含計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的存儲介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令在由計(jì)算機(jī)處理器執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行本發(fā)明實(shí)施例中任一所述的測試處理方法。
本發(fā)明通過接收前端發(fā)送的測試請求,其中,測試請求中包括設(shè)備標(biāo)識;基于設(shè)備標(biāo)識和用戶-設(shè)備映射關(guān)系確定未登錄用戶的測試數(shù)據(jù);基于設(shè)備標(biāo)識確定未登錄用戶的測試方案;根據(jù)未登錄用戶的測試數(shù)據(jù)對未登錄用戶的測試方案進(jìn)行測試。上述技術(shù)方案,通過設(shè)備標(biāo)識確定未登錄用戶的測試方案和測試數(shù)據(jù),并基于未登錄用戶的測試方案和測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試,實(shí)現(xiàn)了對歷史用戶中的未登錄用戶進(jìn)行測試,使測試的用戶更加全面,并根據(jù)未登錄用戶的測試結(jié)果提升未登錄用戶的用戶體驗(yàn)。
附圖說明
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測;錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測試作故障硬件的檢測或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測試或調(diào)試防止錯(cuò)誤





