[發明專利]產品虛擬量測方法及系統及裝置及介質

有效

• 申請號: 202111178994.2
• 申請日: 2021-10-11
• 公開（公告）號: CN113609790B
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 成都數聯云算科技有限公司
• 主分類號: G06F30/27
• 分類號: G06F30/27;G06K9/62;G06N20/00
• 代理公司: 成都云縱知識產權代理事務所(普通合伙) 51316
• 代理人: 熊曦;陳婉鵑

1.產品虛擬量測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲得多個第一產品的第一歷史加工數據，所述第一產品為已完成工藝加工和質量檢測的產品；

對每個所述第一歷史加工數據進行特征提取獲得多個第一數據集；

對每個所述第一數據集進行時序滑窗處理，獲得多個第一參考樣本；

將多個所述第一數據集與對應的所述第一參考樣本做差分處理獲得多個第一差分樣本；

基于多個所述第一差分樣本獲得第一訓練集；

利用所述第一訓練集訓練第一模型獲得第二模型，所述第一模型用于學習參數特征差和特性值差之間的關系；

獲得待檢測產品的實時加工數據，所述待檢測產品為已完成工藝加工且未完成質量檢測的產品；

對所述實時加工數據進行特征提取獲得第二數據集；

對所述第二數據集進行時序滑窗處理獲得第二參考樣本，將所述第二數據集與所述第二參考樣本做差分處理獲得差分數據；

將所述差分數據輸入所述第二模型，獲得所述待檢測產品與其對應的參考產品之間的特性值差；

其中，所述參數特征差為第一特征與第二特征的差值，所述第一特征為預設產品的工藝加工設備的設備參數的特征；所述第二特征為參考產品的工藝加工設備的設備參數的特征；所述特性值差為第一特性值與第二特性值的差值，所述第一特性值為所述預設產品的質量檢測設備輸出的特性值；所述第二特性值為所述參考產品的質量檢測設備輸出的特性值。

2.根據權利要求1所述的產品虛擬量測方法，其特征在于，所述方法包括：

基于m個已完成工藝加工和質量檢測的第一產品1至第一產品m，獲得所述第一產品1至所述第一產品m對應的第一歷史加工數據1至第一歷史加工數據m，m為大于1的整數；

基于所述第一歷史加工數據1至所述第一歷史加工數據m，獲得第一數據集1至第一數據集m；

對所述第一數據集1至所述第一數據集m進行時序滑窗處理獲得對應的第一參考樣本1至第一參考樣本m；

將所述第一數據集1與所述第一參考樣本1做差分處理獲得第一差分樣本1，...，將所述第一數據集m與所述第一參考樣本m做差分處理獲得第一差分樣本m；

基于所述第一差分樣本1至所述第一差分樣本m獲得第一訓練集。

3.根據權利要求1所述的產品虛擬量測方法，其特征在于，所述方法包括：

基于所述實時加工數據，獲得所述待檢測產品的工藝加工設備的設備參數的特征a；

對所述實時加工數據進行時序滑窗處理，獲得所述待檢測產品對應的參考產品a；

基于所述參考產品a的歷史加工數據，獲得所述參考產品的工藝加工設備的設備參數的特征b和特性值b；

基于所述特征a和所述特征b獲得所述待檢測產品的第一參數特征差；

將所述第一參數特征差輸入所述第二模型獲得所述待檢測產品的第一特性值差；

基于所述第一特性值差和所述特性值b獲得所述待檢測產品的特性值預測結果。

4.根據權利要求1所述的產品虛擬量測方法，其特征在于，第一數據集c的獲得方式為：

從第一歷史加工數據c中提取獲得：加工產品c的工藝設備的第一監測參數、檢測所述產品c的質量檢測設備d的輸出特性值和所述質量檢測設備d檢測所述產品c的第一檢測時間，c為大于或等于1且小于或等于m的整數；

對所述第一監測參數進行特征提取獲得特征數據；

基于所述第一檢測時間、所述特征數據和所述輸出特性值獲得所述第一數據集。

5.根據權利要求4所述的產品虛擬量測方法，其特征在于，對所述第一監測參數進行特征提取獲得時域特征數據以及頻域特征數據。

6.根據權利要求4所述的產品虛擬量測方法，其特征在于，產品i對應的第一數據集i為：，其中，為所述產品i的第一檢測時間，為所述產品i對應的特征數據，為所述產品i對應的輸出特性值，i大于或等于1且小于或等于m。