[發明專利]不同排列組合的探針卡

有效

• 申請號: 202111177335.7
• 申請日: 2021-10-09
• 公開（公告）號: CN113791335B
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 袁宇鋒;朱元慶;戴莉;王建鏢
• 申請（專利權）人: 南通芯盟測試研究院運營管理有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供了一種不同排列組合的探針卡，其上具有2^N?1個探針孔，第一列探針孔具有2^N?1?1個，第二列探針孔具有2^N?1個，另外在第二列的外側具有數量不少于2^N?1個的排線孔；每個探針孔具有一根引線連接一個排線孔。本發明的探針孔數之和具有完整自然數序列，探針孔和引線排布位置清晰。

技術領域

本發明涉及一種探卡中探針的排布形式。

背景技術

探針是什么，探針是電子測試中測試PCB的一種測試針，通常表面鍍金，是高端的電子元件。

作為信息探測工具來說，探針卡是一種測試接口，主要用于接插探針，通過探針連接測試機和芯片，將探針卡上的探針直接與芯片上的焊墊或凸塊直接接觸，通過傳輸信號對芯片參數進行測試。探針卡是應用在IC尚未封裝前，再配合周邊測試儀器與軟件控制達到自動化量測的目的。

一般的探針卡上的探針是圓周形排布，或者矩陣式排布，在后續的引線布置線路上有一定的局限，線路繞行過于復雜，或者線路連接關系不易分清。

發明內容

發明目的：提供一種探針孔數目具有完整自然數序列而無過多重復組合數，排布位置清晰分布的不同排列組合的探針卡。

技術方案：

本發明的不同排列組合的探針卡，其上具有2^N-1個探針孔，N為不小于3的自然數；探針孔排成相互平行的兩列，第一列具有2^N-1-1個，第二列具有2^N-1個，另外在第二列的外側具有數量不少于2^N-1（多余的可以空置）個的排線孔（供插接排線連接到測試機）；每個探針孔具有一根引線連接一個排線孔。第一列的探針孔通過引線向其外側行走，接著從上下兩端分別繞行，然后連接到排線孔位；第二列的探針孔通過引線直接延長到外側的排線孔（或者排線針）。

每一個針孔具有一根引腳，每一個針孔中可以插入一根探針。每一根探針的尖端接觸芯片上的一個待測電極點，全部排線孔可以通過排線連接到探針臺的測試機。

第一列分為N-1組，自上而下依次排列，第一組為一個探針孔，第二組為2個探針孔，第N-1組為2 ^N-2個探針孔。

第二列單獨作為第N組。

任意一組針孔的數量或者任意幾組針孔的數量之和能夠構成一個完整的自然數序列：1、2、3、…、2N-1。同一組的所有探針孔可以同時集中使用，無需在不同組中的非全部孔位插入探針。

比如需要插入三個探針時，采用第一組和第二組的組合；如需要插入5個探針時，采用第一組和第三組的組合；插入11根探針時，采用附圖2的第一組、第二組、第四組的組合。不同組合的和數基本唯一確定，算法最經濟，編程容易，便于高效收集信號和快速發送控制指令。

每一組中相鄰兩個探針孔的間距為A，每一組與相鄰組的間距為B。BA，使得組與組有比較清楚間隔，容易識別，不易接錯引線，容易快速計算探針總數。

第一列的第1至N-2組的引線從上端繞行連接到排線孔，第N-1組的引線從下端繞行連接到排線孔。上下引線基本分置（相差一根引線），使得上下空間均衡使用。

第一列與第二列的引線走向相反，便于兩列之間縮短距離；第一列上下引線分別在上下兩側行走；使得IC電路板的尺寸可以盡可能減小，而且布局均勻便于引線散熱。

有益效果：