[發明專利]試題畫像方法、裝置、電子設備和存儲介質在審
| 申請號: | 202111177214.2 | 申請日: | 2021-10-09 |
| 公開(公告)號: | CN113919983A | 公開(公告)日: | 2022-01-11 |
| 發明(設計)人: | 程禮磊;于俊;李雅潔;程知遠;武文強;陳琦;譚昶;陳濤 | 申請(專利權)人: | 南京謙萃智能科技服務有限公司;科大訊飛股份有限公司 |
| 主分類號: | G06Q50/20 | 分類號: | G06Q50/20;G06Q10/04;G06F17/18 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 程琛 |
| 地址: | 210019 江蘇省南京市建鄴區江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 試題 畫像 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種試題畫像方法,其特征在于,包括:
確定待畫像試題的試題數據;
基于所述試題數據,對所述待畫像試題進行知識點預測,得到所述待畫像試題屬于各個候選知識點的概率;
基于所述待畫像試題屬于各個候選知識點的概率的分布情況,確定所述待畫像試題的知識點標簽數量;
基于所述知識點標簽數量,以及所述待畫像試題屬于各個候選知識點的概率,對所述待畫像試題進行多知識點畫像。
2.根據權利要求1所述的試題畫像方法,其特征在于,所述基于所述試題數據,對所述待畫像試題進行知識點預測,得到所述待畫像試題屬于各個候選知識點的概率,包括:
基于所述試題數據,對所述待畫像試題進行各個知識點層級的知識點預測,得到所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的各個候選知識點的概率;
所述基于所述待畫像試題屬于各個候選知識點的概率的分布情況,確定所述待畫像試題的知識點標簽數量,包括:
基于所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的各個候選知識點的概率的分布情況,確定所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的知識點標簽數量;
所述基于所述知識點標簽數量,以及所述待畫像試題屬于各個候選知識點的概率,對所述待畫像試題進行多知識點畫像,包括:
基于所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的知識點標簽數量,以及所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的各個候選知識點的概率,對所述待畫像試題進行各個知識點層級的多知識點畫像。
3.根據權利要求2所述的試題畫像方法,其特征在于,所述確定所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的知識點標簽數量,之后還包括:
基于所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的知識點標簽數量、各個知識點層級下的候選知識點標簽數量以及各個知識點層級下的候選知識點概率總和,對所述待畫像試題進行綜合度畫像;
所述候選知識點概率總和為按照概率從高到低的順序排列時,前所述知識點標簽數量個候選知識點的概率之和。
4.根據權利要求3所述的試題畫像方法,其特征在于,所述基于所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的知識點標簽數量、各個知識點層級下的候選知識點標簽數量以及各個知識點層級下的候選知識點概率總和,對所述待畫像試題進行綜合度畫像,包括:
基于所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的知識點標簽數量、各個知識點層級下的候選知識點標簽數量以及各個知識點層級下的候選知識點概率總和,對所述待畫像試題進行各個知識點層級的綜合度畫像,得到各個知識點層級下的綜合度畫像;
對各個知識點層級下的綜合度畫像進行加權求和,得到所述待畫像試題的綜合度畫像。
5.根據權利要求2所述的試題畫像方法,其特征在于,所述基于所述試題數據,對所述待畫像試題進行各個知識點層級的知識點預測,得到所述待畫像試題屬于各個知識點層級下的各個候選知識點的概率,包括:
將所述試題數據分別輸入至各個知識點層級對應的知識點預測模型,得到各個知識點層級對應的知識點預測模型分別輸出的所述待畫像試題屬于各個知識點層次下的各個候選知識點的概率;
各個知識點層級對應的知識點預測模型是基于樣本試題的試題數據,以及所述樣本試題屬于對應知識點層級下的各個候選知識點的概率訓練得到的。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的試題畫像方法,其特征在于,所述對所述待畫像試題進行多知識點畫像,之后還包括:
確定多知識點畫像所得的待畫像試題的關聯知識點;
基于所述關聯知識點、各學生對所述關聯知識點的熟練度、所述關聯知識點的難度、所述待畫像試題的區分度與所述待畫像試題的得分情況之間的約束關系,對所述待畫像試題進行知識點難度畫像和區分度畫像。
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