[發(fā)明專利]用于嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的系統(tǒng)、方法、設(shè)備以及介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111167919.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-09-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113836031A | 公開(公告)日: | 2021-12-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉東坡;王雷;陸文艷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京永新同創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11376 | 代理人: | 于景輝;李文彪 |
| 地址: | 430074 湖北省武*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 嵌入式 系統(tǒng) 測(cè)試 方法 設(shè)備 以及 介質(zhì) | ||
本公開提供了一種測(cè)試系統(tǒng),包括:測(cè)試控制模塊,用于:提供編碼后的固件代碼,所述編碼后的固件代碼包括在測(cè)試期間與嵌入式系統(tǒng)中發(fā)生的一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的編碼信息;以及生成系統(tǒng)測(cè)試日志,所述系統(tǒng)測(cè)試日志包括在所述測(cè)試期間與所述測(cè)試系統(tǒng)中發(fā)生的一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的第一時(shí)間信息;以及日志處理模塊,用于:接收所述系統(tǒng)測(cè)試日志;接收來自所述嵌入式系統(tǒng)的固件日志,所述固件日志包括與所述嵌入式系統(tǒng)中發(fā)生的所述一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的第二時(shí)間信息以及所述編碼信息;將所述編碼信息轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的字符信息;以及基于所述第一時(shí)間信息、所述第二時(shí)間信息以及所述字符信息,生成日志報(bào)告。
技術(shù)領(lǐng)域
概括地說,本公開涉及嵌入式系統(tǒng)測(cè)試,具體地說,本公開涉及標(biāo)準(zhǔn)化的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試框架。
背景技術(shù)
嵌入式系統(tǒng)是一種服務(wù)于特定應(yīng)用的專用計(jì)算機(jī)系統(tǒng),其具有定制化的軟硬件模塊。由于使用場(chǎng)景的限制,嵌入式系統(tǒng)一般對(duì)功能、性能、可靠性、成本、尺寸、功耗等指標(biāo)有嚴(yán)格的要求。因此,受限于嵌入式系統(tǒng)有限的計(jì)算和存儲(chǔ)資源,如何高效地對(duì)嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試一直是行業(yè)難點(diǎn)和痛點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
按照本公開的一方面,提供一種測(cè)試系統(tǒng),其包括:測(cè)試控制模塊,用于:提供編碼后的固件代碼,所述編碼后的固件代碼包括在測(cè)試期間與嵌入式系統(tǒng)中發(fā)生的一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的編碼信息;以及生成系統(tǒng)測(cè)試日志,所述系統(tǒng)測(cè)試日志包括在所述測(cè)試期間與所述測(cè)試系統(tǒng)中發(fā)生的一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的第一時(shí)間信息;以及日志處理模塊,用于:接收所述系統(tǒng)測(cè)試日志;接收來自所述嵌入式系統(tǒng)的固件日志,所述固件日志包括與所述嵌入式系統(tǒng)中發(fā)生的所述一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的第二時(shí)間信息以及所述編碼信息;將所述編碼信息轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的字符信息;以及基于所述第一時(shí)間信息、所述第二時(shí)間信息以及所述字符信息,生成日志報(bào)告。
按照本公開的又一方面,提供一種測(cè)試方法,其包括:提供編碼后的固件代碼,所述編碼后的固件代碼包括在測(cè)試期間與嵌入式系統(tǒng)中發(fā)生的一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的編碼信息;生成系統(tǒng)測(cè)試日志,所述系統(tǒng)測(cè)試日志包括在所述測(cè)試期間與測(cè)試系統(tǒng)中發(fā)生的一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的第一時(shí)間信息;接收來自所述嵌入式系統(tǒng)的固件日志,所述固件日志包括與所述嵌入式系統(tǒng)中發(fā)生的所述一個(gè)或多個(gè)事件相對(duì)應(yīng)的第二時(shí)間信息以及所述編碼信息;將所述編碼信息轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的字符信息;以及基于所述第一時(shí)間信息、所述第二時(shí)間信息以及所述字符信息,生成日志報(bào)告。
按照本公開的還一方面,提供一種測(cè)試設(shè)備,其包括:存儲(chǔ)指令的存儲(chǔ)器;以及耦合到所述存儲(chǔ)器的處理器,所述指令在被所述處理器執(zhí)行時(shí)執(zhí)行根據(jù)本公開所述的方法。
按照本公開的再一方面,提供一種具有指令的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),所述指令在被處理器執(zhí)行時(shí),使所述處理器執(zhí)行根據(jù)本公開所述的方法。
本公開的技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)一種標(biāo)準(zhǔn)化的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試方法和框架。根據(jù)本公開的技術(shù)方案,在對(duì)嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試時(shí),既能節(jié)省嵌入式系統(tǒng)的存儲(chǔ)器空間,又能主動(dòng)分析測(cè)試用例和固件代碼的關(guān)聯(lián)性,從而自動(dòng)推斷測(cè)試代碼的命中率和固件代碼的代碼覆蓋率,提高了嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的效率。
附圖說明
以下附圖僅是根據(jù)本公開的各實(shí)施例的出于說明目的的示例,并且不旨在限制本公開的范圍。
圖1示出了根據(jù)本公開一實(shí)施例的用于嵌入式系統(tǒng)的固件代碼。
圖2示出了根據(jù)本公開一實(shí)施例的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試框架。
圖3示出了根據(jù)本公開一實(shí)施例的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試方法的流程圖。
圖4示出了根據(jù)本公開一實(shí)施例的用于進(jìn)行嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的設(shè)備。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本公開實(shí)施例提供的方法和系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)說明。雖然附圖中顯示了本公開的優(yōu)選實(shí)施例,然而應(yīng)該理解,可以以各種形式實(shí)現(xiàn)本公開而不應(yīng)被這里闡述的實(shí)施例所限制。相反,提供這些實(shí)施例是為了使本公開更加透徹和完整,并且能夠?qū)⒈竟_的范圍完整地傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司,未經(jīng)長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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