[發(fā)明專利]一種過流保護測試方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111165192.8 | 申請日： | 2021-09-30 |
| 公開（公告）號： | CN114019267A | 公開（公告）日： | 2022-02-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 施秋云 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛嬌 |
| 地址： | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 保護 測試 方法 裝置 設(shè)備 可讀 存儲 介質(zhì) | ||
本發(fā)明公開了一種過流保護測試方法、裝置、設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì)，本申請中的處理器可以通過電子負載控制待測主板中的待測VR芯片的輸出電流從基準電流值開始以預設(shè)步幅遞增，在此過程中可以對待測VR芯片觸發(fā)斷路保護時產(chǎn)生的斷路保護信號進行監(jiān)測，一旦發(fā)現(xiàn)屬于過溫保護觸發(fā)斷路，便可以在預設(shè)時長(待測VR芯片冷卻)后通過電子負載控制待測VR芯片的輸出電流從觸發(fā)過溫保護瞬間的電流值開始以預設(shè)步幅遞增，從而繼續(xù)進行測試，直至待測VR芯片觸發(fā)過流保護并記錄過流保護觸發(fā)值，由于本申請應(yīng)用于處理器中，工作效率較高，且能夠準確地找到過流保護觸發(fā)值，提高了測試準確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及服務(wù)器領(lǐng)域，特別是涉及一種過流保護測試方法，本發(fā)明還涉及一種過流保護測試裝置、設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
服務(wù)器主板和其他板卡在開發(fā)階段需要針對主板的電源設(shè)計方案進行測試，在測試過程中，需要對待測主板上的VR(voltage adjustment，電壓調(diào)節(jié))芯片進行電流保護的驗證，來保證主板的供電穩(wěn)定性，具體需要驗證VR芯片真實的OCP(Over CurrentProtection，過流保護)觸發(fā)點，然而現(xiàn)有技術(shù)中在進行過流保護測試時，通常需要工作人員手動調(diào)節(jié)負載大小以便對各個等級的電流進行測試，測試效率較低，并且還可能因為長時間的測試觸發(fā)VR芯片的OTP(Over Temperature Protection，過溫保護)從而誤將過此時的電流值當做OCP觸發(fā)點，測試準確性較差。
因此，如何提供一種解決上述技術(shù)問題的方案是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種過流保護測試方法，本申請應(yīng)用于處理器中，工作效率較高，且能夠準確地找到過流保護觸發(fā)值，提高了測試準確性；本發(fā)明的另一目的是提供一種過流保護測試裝置、設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì)，本申請應(yīng)用于處理器中，工作效率較高，且能夠準確地找到過流保護觸發(fā)值，提高了測試準確性。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種過流保護測試方法，應(yīng)用于處理器，包括：
通過電子負載控制待測主板中的待測電壓調(diào)節(jié)VR芯片的輸出電流從基準電流值開始以預設(shè)步幅遞增；
監(jiān)測所述待測VR芯片觸發(fā)斷路保護時產(chǎn)生的斷路保護信號；
在所述斷路保護信號為過溫保護類型時，在預設(shè)時長后通過所述電子負載控制所述待測VR芯片的輸出電流從觸發(fā)過溫保護瞬間的電流值開始以所述預設(shè)步幅遞增，并執(zhí)行所述監(jiān)測所述待測VR芯片觸發(fā)斷路保護時產(chǎn)生的斷路保護信號的步驟；
在所述斷路保護信號為過流保護類型時，將所述待測VR芯片觸發(fā)過流保護瞬間的電流值作為過流保護觸發(fā)值。
優(yōu)選地，所述監(jiān)測所述待測VR芯片觸發(fā)斷路保護時產(chǎn)生的斷路保護信號包括：
通過通信裝置對所述待測主板中的各個所述待測VR芯片進行尋址，確定出各個所述待測VR芯片的通信地址；
響應(yīng)于通過人機交互裝置接收到的選擇指令，對所述選擇指令指定的所述通信地址對應(yīng)的所述待測VR芯片觸發(fā)斷路保護時產(chǎn)生的斷路保護信號進行監(jiān)測。
優(yōu)選地，所述通信裝置包括：
與所述處理器連接的控制芯片，用于在所述處理器的控制下通過尋址芯片獲取各個所述待測VR芯片的通信地址，并將獲取到的所述通信地址傳輸至所述處理器，以便所述處理器通過自身以及所述尋址芯片實現(xiàn)與指定的所述通信地址對應(yīng)的VR芯片的通信；
分別與所述控制芯片以及各個所述待測VR芯片連接的所述尋址芯片。
優(yōu)選地，所述通信裝置還包括與所述控制芯片連接的提示裝置；
所述監(jiān)測所述待測VR芯片觸發(fā)斷路保護時產(chǎn)生的斷路保護信號之后，該過流保護測試方法還包括：
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