[發明專利]一種用于APD器件的驅動測試裝置及方法

有效

• 申請號: 202111158284.3
• 申請日: 2021-09-30
• 公開（公告）號: CN113589093B
• 公開（公告）日: 2021-12-28
• 發明（設計）人: 馬超;李金金;黃秋元;周鵬
• 申請（專利權）人: 武漢普賽斯電子技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 黃君軍

本申請涉及一種用于APD器件的驅動測試裝置及方法，該裝置包括：輸入模塊，用于接收測試參數信號并傳輸至控制模塊；控制模塊，用于將測試參數信號數模轉換后并進行傳輸；光源模塊，用于接收光源波長參數的模擬信號以輸出光源至待測APD器件；第一驅動檢測模塊，用于接收APD測試電壓/電流的模擬信號以輸出至待測APD器件，并采集APD雪崩電壓和APD暗電流以傳輸至控制模塊；第二驅動檢測模塊，用于接收電源電壓的模擬信號以傳輸至待測APD器件，并采集TIA電壓/電流以傳輸至控制模塊；控制模塊，還用于根據采集的APD雪崩電壓、APD暗電流、TIA電壓/電流，確定待測APD器件的質量。本申請能夠高效、快捷地檢測出待測APD器件的質量，降低檢測難度。

技術領域

本申請涉及光電器件測試技術領域，尤其是涉及一種用于APD器件的驅動測試裝置及方法。

背景技術

隨著光通信行業的發展，光器件測試需求也越來越大。針對高速APD器件的耦合與測試，需要測試APD探測器的雪崩電壓、暗電流、響應度、TIA電流，同時還需要在耦合時，監控輸出信號幅度等指標。傳統的測試采用keithley2400系列通用源表（PMU）、可編程穩壓電源、穩定調制光源、示波器等多臺設備組合的形式來構建整個耦合和測試。同時還需要開發一套測試軟件來協調設備聯動。面對整個龐大的測試系統，會給各光器件生產廠商帶來生產成本大、占地面積大、可維護性低、生產效率低等問題。

發明內容

有鑒于此，本申請提供一種用于APD器件的驅動測試裝置及方法，用以解決現有APD器件測試設備復雜，從而導致測試成本較高的技術問題。

為了解決上述問題，第一方面，本申請提供一種用于APD器件的驅動測試裝置，所述裝置包括：輸入模塊、控制模塊、第一驅動檢測模塊、第二驅動檢測模塊以及光源模塊；所述輸入模塊、所述第一驅動檢測模塊、第二驅動檢測模塊以及光源模塊分別與所述控制模塊電連接；

輸入模塊，用于接收測試參數信號并傳輸至控制模塊，所述測試參數信號至少包括APD測試電壓/電流信號、電源電壓信號以及光源波長參數信號；

控制模塊，用于將所述測試參數信號從數字信號轉換成模擬信號，并將所述測試參數模擬信號分別對應傳輸至第一驅動檢測模塊、第二驅動檢測模塊以及光源模塊；

光源模塊，用于接收光源波長參數的模擬信號，以輸出對應光源波長的光至待測APD器件；

第一驅動檢測模塊，用于接收APD測試電壓/電流的模擬信號，以輸出至所述待測APD器件的APD雪崩二極管，并采集APD雪崩電壓和APD暗電流以傳輸至控制模塊；

第二驅動檢測模塊，用于接收電源電壓的模擬信號以傳輸至待測APD器件的TIA前置放大器，并采集TIA電壓和TIA電流以傳輸至控制模塊；

所述控制模塊，還用于將APD雪崩電壓、APD暗電流、TIA電壓和TIA電流，分別與對應預設參考范圍進行比較，根據比較結果確定所述待測APD器件的質量。

可選的，所述裝置還包括光強接收檢測模塊，所述光強接收檢測模塊分別與待測APD器件和控制模塊電連接；

所述光強接收檢測模塊，用于檢測待測APD器件進行光耦合時輸出信號強度并傳輸至控制模塊。

可選的，所述第一驅動檢測模塊包括高壓恒壓驅動檢測電路、高壓恒流驅動檢測電路以及開關切換單元；所述高壓恒壓驅動檢測電路與所述開關切換單元電連接；所述高壓恒流驅動檢測電路與所述開關切換單元電連接；

所述高壓恒壓驅動檢測電路，用于接收所述控制模塊傳輸的APD測試電壓模擬信號，生成可調電壓信號并通過所述開關切換單元傳輸至待測APD器件的APD雪崩二極管，以獲取第一APD雪崩電壓和第一APD暗電流；