[發明專利]芯片的測試方法、裝置、設備及系統

在審

• 申請號: 202111154313.9
• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113835945A
• 公開（公告）日: 2021-12-24
• 發明（設計）人: 張吉興;楊崇鵬;武藝
• 申請（專利權）人: 深圳大普微電子科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/36
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司 44372
• 代理人: 陳金賞

1.一種芯片的測試方法，其特征在于，應用于測試設備，所述方法包括：

獲取驗證環境輸出的寄存器配置文件；

轉換所述寄存器配置文件，生成適配文件，并搭建軟件測試環境，其中，所述適配文件適配所述測試設備的測試軟件的軟件測試代碼；

構建測試用例，并執行所述測試用例，以對所述芯片進行測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述搭建主體測試環境，包括：

將所述適配文件集成到測試設備的初始測試環境，以得到所述主體測試環境。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述寄存器配置文件由驗證設備從邏輯驗證環境中生成。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述驗證設備從邏輯驗證環境生成寄存器配置文件，包括：

基于邏輯驗證環境，生成寄存器頭文件；

擴展第一寄存器映射類，生成第二寄存器映射類；

基于所述第二寄存器映射類，重寫任務總線的讀任務和寫任務分別對應的第一任務體和第二任務體；

從所述第一任務體和第二任務體中分別增加第一函數，通過所述第一函數產生寄存器定義文件，其中，所述寄存器定義文件適配所述測試設備的測試軟件的軟件測試代碼；

組合所述寄存器頭文件和寄存器定義文件，生成所述寄存器配置文件。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述通過所述第一函數產生寄存器定義文件，包括：

根據芯片的邏輯模塊、讀寫類型、寄存器名、寄存器域、數據長度，結合所述測試設備的測試軟件所需的格式，生成寄存器定義文件。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在測試用例的構建階段，將第二寄存器映射類替換第一寄存器映射類。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在測試用例的執行階段，判斷所述寄存器配置文件中是否包括第一函數開啟標識，以確定是否開啟第一函數的第一功能，其中，所述第一函數開啟標識用于確定開啟第一函數的第一功能，所述第一功能包括監控寄存器操作以及產生寄存器定義文件。

8.一種芯片的測試裝置，其特征在于，應用于測試設備，所述裝置包括：

配置文件獲取模塊，用于獲取驗證環境輸出的寄存器配置文件；

軟件測試環境搭建模塊，用于轉換所述寄存器配置文件，生成適配文件，并搭建軟件測試環境，其中，所述適配文件適配所述測試設備的測試軟件的軟件測試代碼；

測試用例構建模塊，用于構建測試用例，并執行所述測試用例，以對所述芯片進行測試。

9.一種測試設備，其特征在于，包括：

至少一個處理器；以及

與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠用于執行如權利要求1-7中任一項所述的芯片的測試方法。

10.一種芯片的測試系統，其特征在于，包括：

如權利要求9所述的測試設備；

驗證設備，通信連接所述測試設備，用于向所述測試設備發送寄存器配置文件。