[發(fā)明專利]一種基于圖像處理的數(shù)字插件通用自動測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111153906.3
• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113759200B
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 田芳寧;孫國強;束峰濤;佟文清;蘇建軍;白一峰
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團公司第三十八研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 合肥昊晟德專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34153
• 代理人: 何梓秋

本發(fā)明公開了一種基于圖像處理的數(shù)字插件通用自動測試系統(tǒng)，屬于數(shù)字插件測試技術(shù)領(lǐng)域，包括數(shù)字插件測試臺、圖像采集處理模塊、測試儀表模塊、控制處理模塊。本發(fā)明能夠基于對數(shù)字插件的圖像處理，識別判斷數(shù)字插件型號和需要測式的節(jié)點，調(diào)用相應(yīng)的自動測試程序，完成各個節(jié)點的指標(biāo)測試，不但能夠測試輸入輸出信號類型，而且通過探針移動能夠?qū)Σ寮我夂更c或測試點進行測試，并根據(jù)測試結(jié)果給出該數(shù)字插件可能的故障部位，協(xié)助使用人員進行故障維修，值得被推廣使用。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及數(shù)字插件測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于圖像處理的數(shù)字插件通用自動測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著科技的發(fā)展，電子產(chǎn)品越來越多，其中使用的數(shù)字電路品種和數(shù)量也越來越多，不同的數(shù)字電路采用不同的電子器件，其實現(xiàn)的功能和達(dá)到的指標(biāo)也具有很大的差異，目前都是采用人工測量的方法進行功能性能測試和故障診斷維修，而人工測量需要對數(shù)字插件的具體電路和功能性能指標(biāo)具有充分的理解，因此每個人只能負(fù)責(zé)某一品種或某幾個品種數(shù)字電路的測量。

對于長壽命的雷達(dá)來說，其使用壽命一般達(dá)到20年以上，雷達(dá)型號多，每種型號的雷達(dá)產(chǎn)量少，而每個型號的雷達(dá)都需要使用不同的數(shù)字插件，如果全部使用人工測量，則需要占用大量的人力資源，即使雷達(dá)停產(chǎn)后，為了保障雷達(dá)的正常使用，仍需要占用部分技術(shù)人員對數(shù)字插件進行維修和測試；而且人工測量效率比較慢，耗費時間多，測試及故障診斷對操作人員的專業(yè)水平要求很高。并且隨著技術(shù)的發(fā)展，雷達(dá)越來越多，占用的人力資源也越來越多，給企業(yè)帶來的負(fù)擔(dān)也越來越重。

可以預(yù)測，未來的數(shù)字插件的指標(biāo)測試及故障診斷將逐步走向自動化、智能化的道路；一種通用數(shù)字插件的非原理性測試裝置及其測試方法(ZL201510229128.X)通過測試系統(tǒng)產(chǎn)生測試向量信號，并將產(chǎn)生的測試向量與接收的測試向量對比，從而判斷信號傳輸通道的短路、斷路等故障，但大部分電路板不但能保證信號的連通，而且需要對信號進行處理，輸出的信號與輸入信號具有較大差異，該專利只比較測試信號的幅度，不涉及信號的類型；而且該專利僅能定位到某個通路的斷點或虛焊點的大概位置，具體斷點位置不能準(zhǔn)確判斷。為此，提出一種基于圖像處理的數(shù)字插件通用自動測試系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于：如何更好地滿足不同品種數(shù)字插件的自動測試要求，降低數(shù)字插件測試對人員的需求，提高測試效率，提供了一種基于圖像處理的數(shù)字插件通用自動測試系統(tǒng)。

本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案解決上述技術(shù)問題的，本發(fā)明包括數(shù)字插件測試臺、圖像采集處理模塊、測試儀表模塊、控制處理模塊；

所述數(shù)字插件測試臺，用于完成數(shù)字插件的固定及對外連接任務(wù)，使數(shù)字插件的對外接口與測試儀表模塊互通，進而使待測數(shù)字插件根據(jù)輸入信號產(chǎn)生相應(yīng)的信號輸出；

所述圖像采集處理模塊，用于進行數(shù)字插件圖像的采集和其中芯片、元器件布局特征提取，并將提取的特征與特征數(shù)據(jù)庫中儲存的數(shù)據(jù)進行對比，識別判斷待測數(shù)字插件的類型，并將識別結(jié)果輸出到控制處理模塊；

所述測試儀表模塊，用于在所述控制處理模塊的控制下，產(chǎn)生數(shù)字插件需要的輸入信號，并采集數(shù)字插件的輸出信號，同時將產(chǎn)生信號和采集信號輸出到控制處理模塊；

所述控制處理模塊，用于控制完成數(shù)字插件的測試工作，判斷數(shù)字插件處于正常或故障狀態(tài)，對故障件給出可能的故障部位和建議維修方案。

更進一步地，所述數(shù)字插件測試臺包括三維絲桿模組、控制箱、平臺、信號轉(zhuǎn)接單元、固定夾具、檢測探針；所述三維絲桿模組帶動所述檢測探針做X、Y、Z軸方向的移動，使得所述檢測探針與數(shù)字插件的任意位置實現(xiàn)良好接觸；所述控制箱在所述控制處理模塊的控制下驅(qū)動所述三維絲桿模組運動；所述固定夾具設(shè)置在所述平臺上，并根據(jù)數(shù)字插件尺寸調(diào)整大小，在測試過程中固定數(shù)字插件；所述檢測探針一端與數(shù)字插件的測試點連接或斷開，另一端與測試儀表模塊連接；所述信號轉(zhuǎn)接單元即測試接口，設(shè)置在所述平臺上，一端與待測數(shù)字插件的對外接口通信連接，另一端與測試儀表模塊通信連接。