[發(fā)明專利]一種新型電子產(chǎn)品主板加工用測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111150201.6
• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113884856B
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 唐朝陽
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇聯(lián)康測控有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 宿遷市永泰睿博知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 32264
• 代理人: 劉慧

本發(fā)明公開了一種新型電子產(chǎn)品主板加工用測試裝置，屬于電子產(chǎn)品測試技術(shù)領(lǐng)域，其包括底板，所述底板的上表面卡接有支撐座，所述支撐座內(nèi)設(shè)置有空腔，所述空腔內(nèi)設(shè)置有驅(qū)動機構(gòu)，所述驅(qū)動機構(gòu)的兩個輸出端均固定連接有連接軸，所述連接軸的外壁卡接有齒盤。本發(fā)明通過設(shè)置驅(qū)動機構(gòu)、連接軸、半齒輪、測試托盤、放置槽和測試觸頭，使測試頂板向上移動一段距離后再向下移動，同時測試托盤會向前移動，使測試觸頭可對測試托盤頂部的后方主板進行測試，相關(guān)人員可取下測試完畢后的主板再將待測主板放入放置槽，如此往復，從而節(jié)省了需等待測試結(jié)果的真空期，通過自動化控制使整個測試過程十分高效，有利于對主板的加工測試工作。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于電子產(chǎn)品測試技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種新型電子產(chǎn)品主板加工用測試裝置。

背景技術(shù)

在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中，其電路板的生產(chǎn)是一個比較關(guān)鍵的工藝，需要對每一塊電路板進行不同的測試，不同的電路板根據(jù)其大小和安裝的電子元件不同，其測試也是不一樣的，其中就有一項是無干擾源環(huán)境下的主板功能性測試，一般情況下要做到無干擾源環(huán)境測試，需要專業(yè)的設(shè)備器材，如無干擾頻普分析儀等。

目前在對電子產(chǎn)品主板進行測試時其防護性較差，通過檢測設(shè)備中的檢測探頭對電子產(chǎn)品主板各個測試點接觸時，由于檢測過程中缺乏相應的支撐緩沖結(jié)構(gòu)，使電子產(chǎn)品主板受擠壓時容易對探測點及其主板本身造成一定的損傷，增加加工成本，同時現(xiàn)有的測試裝置無法實現(xiàn)對批量主板的測試的目的，需單次完成對主板的放置、將主板托盤推入測試設(shè)備、啟動測試設(shè)備、等待完成對主板的測試，待測試完成后取出主板再往復操作，使其測試的效率十分低下，不利于對主板的加工測試工作，因此需一種防護型且高效測試的電子產(chǎn)品主板加工用測試裝置來解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容

(一)解決的技術(shù)問題

為了克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，本發(fā)明提供了一種新型電子產(chǎn)品主板加工用測試裝置，解決了檢測過程中缺乏相應的支撐緩沖結(jié)構(gòu)，使電子產(chǎn)品主板受擠壓時容易對探測點及其主板本身造成一定的損傷，增加加工成本，同時現(xiàn)有的測試裝置無法實現(xiàn)對批量主板的測試的目的，需單次完成對主板的放置、將主板托盤推入測試設(shè)備、啟動測試設(shè)備、等待完成對主板的測試，待測試完成后取出主板再往復操作，使其測試的效率十分低下的問題。

(二)技術(shù)方案

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種新型電子產(chǎn)品主板加工用測試裝置，包括底板，所述底板的上表面卡接有支撐座，所述支撐座內(nèi)設(shè)置有空腔，所述空腔內(nèi)設(shè)置有驅(qū)動機構(gòu)，所述驅(qū)動機構(gòu)的兩個輸出端均固定連接有連接軸，所述連接軸的外壁卡接有齒盤，所述齒盤與齒板相嚙合，所述齒板的上表面與限位板的下表面固定連接，兩個限位板的上表面均與連接板的下表面固定連接，所述連接板的上方設(shè)置有測試托盤，所述測試托盤上表面的前后方均勻開設(shè)有若干個放置槽。

所述測試托盤的底部套接在立板外壁，所述立板的下表面與支撐座內(nèi)壁的下表面固定連接，所述測試托盤底部的左右兩側(cè)均通過銷軸活動連接有連接桿，所述連接桿的左端通過銷軸與滑動組件的上表面固定連接，所述滑動組件滑動連接在滑槽內(nèi)，兩個滑槽均開設(shè)在連接板的上表面。

所述滑動組件的左端與滑槽內(nèi)壁的左側(cè)面固定連接，兩個連接軸的外壁均通過軸承卡接在支撐座的左右兩側(cè)面，所述連接軸的左端卡接有半齒輪，所述半齒輪的外壁設(shè)置有齒桿，對應兩個齒桿的頂端均與擋塊的下表面固定連接，兩個擋塊的相對面分別與測試頂板的左右兩側(cè)面固定連接，所述測試頂板的下表面卡接有測試觸頭。

作為本發(fā)明的進一步方案：所述滑動組件包括滑塊，所述滑塊滑動連接在滑槽內(nèi)，所述滑塊的上表面通過銷軸與連接桿的左端活動連接，所述滑塊通過彈簧與滑槽內(nèi)壁固定連接。

作為本發(fā)明的進一步方案：所述齒桿的底端與第二伸縮桿的頂端固定連接，對應兩個第二伸縮桿分別卡接在底板上表面的左右兩側(cè)。

作為本發(fā)明的進一步方案：所述限位板滑動連接在限位孔內(nèi)，兩個限位孔均開設(shè)在支撐座內(nèi)壁的下表面。