[發明專利]一種用于測定機制砂級配的篩分裝置及測試方法

在審

• 申請號: 202111150179.5
• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113877814A
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發明（設計）人: 蔣正武;何倍;任強
• 申請（專利權）人: 同濟大學
• 主分類號: B07B1/38
• 分類號: B07B1/38;B07B1/34;B07B1/42;B07B1/46
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 劉燕武

1.一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，包括：

固定底座；

位于固定底座上方的篩分機構：包括從上到下間隔布置的篩蓋、篩網組件以及篩底，所述篩網組件由相互緊密貼合的上層篩網與下層篩網構成，所述上層篩網與下層篩網之間還設有使得兩者之間相對轉動的調節組件，所述上層篩網與下層篩網上加工有位置對應的篩孔；

布置在篩底上的計量機構；

振動機構。

2.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，所述的篩蓋具有旋轉打開或關閉的功能。

3.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，所述的篩蓋、篩網組件與篩底共同圍成一具有上下兩層的密閉空間，其中，上層空間為位于篩網組件上方的篩上物層，下層空間為位于篩網組件下方的篩下物層。

4.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，所述的上層篩網轉動安裝在下層篩網上，所述調節組件用于使得上層篩網以下層篩網為支點轉動。

5.根據權利要求4所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，所述的上層篩網通過支軸轉動安裝在下層篩網上，所述調節組件為驅動所述支軸轉動的旋轉電機。

6.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，所述的篩底由上下開口的圓柱形外殼、以及可拆卸安裝在圓柱形外殼底部開口處的底板組成，在底板下方設置所述計量機構。

7.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，所述的篩網組件的篩孔孔徑變化范圍為0mm～4.75mm。

8.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，該篩分裝置還包括連接所述篩分機構與振動機構的調控機構。

9.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的篩分裝置，其特征在于，所述振動機構包括分別布置在固定底座與篩分機構上的上下振動組件與旋轉振動組件。

10.根據權利要求1所述的一種用于測定機制砂級配的方法，其采用如權利要求1-9任一所述的用于測定機制砂級配的篩分裝置實施，其特征在于，包括以下步驟：

(1)安裝好篩分裝置，此時上層篩網與下層篩網完全錯開，并打開篩蓋，倒入已稱量好的機制砂，關閉篩蓋；

(2)調節上層篩網，使得上層篩網的篩孔與下層篩網部分重合，啟動振動機構，設置篩分時間；

(3)篩分結束后，由計量機構測量當前過篩尺寸下的機制砂質量；

(4)繼續調節上層篩網與下層篩網的重合度，重復步驟(2)至(3)，完成對不同過篩尺寸下的機制砂質量的測量，即完成對機制砂級配的測定。