[發明專利]模擬斷路器測試裝置

在審

• 申請號: 202111148904.5
• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113805003A
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發明（設計）人: 胡賀召;賈發軍;王松超;侯高雷;楊振宇;何傳虎;李文波;許龍飛
• 申請（專利權）人: 許昌許繼電測設備有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京天盾知識產權代理有限公司 11421
• 代理人: 張曉慶

1.模擬斷路器測試裝置，包括控制器、指令調節單元和測試控制管理單元，其特征在于：所述指令調節單元用于對所述控制器下發的控制指令信號進行調節處理，包括指令放大陷波調理電路和穩定調理電路；

所述指令放大陷波調理電路包括運放器AR1、AR2和AR3，運放器AR1的同相輸入端通過電容C1連接電阻R1的一端和所述控制器的模擬指令信號輸出端，并通過陷波組件連接運放器AR3的同相輸入端，電阻R1的另一端接地，運放器AR1的反相輸入端和輸入端通過電阻R2連接運放器AR2的反相輸入端，運放器AR3的反相輸入端和輸出端通過電阻R4連接運放器AR2的同相輸入端和變阻器RP1的一端，變阻器RP1的另一端與滑動端接地，運放器AR2的輸出端連接所述穩定調理電路的輸入端，并通過并聯的電阻R5和電容C4連接運放器AR2的反相輸入端；所述穩定調理電路用于對所述指令放大陷波調理電路的輸出信號進行穩幅調節，并通過緩沖穩定后送入所述測試控制管理單元中。

2.根據權利要求1所述模擬斷路器測試裝置，其特征在于：所述穩定調理電路包括MOS管Q1，MOS管Q1的漏極連接電阻R6的一端和運放器AR2的輸出端，MOS管Q1的柵極連接電阻R6的另一端，并通過并聯的電阻R7和電容C5接地，MOS管Q1的源極通過并聯的電阻R8和電容C6連接電阻R9的一端和所述測試控制管理單元的指令信號輸入端，電阻R9的另一端接地。

3.根據權利要求1和2所述模擬斷路器測試裝置，其特征在于：所述陷波組件包括電感L1、電阻R3和電容C2、C3，電感L1、電阻R3和電容C2的一端連接運放器AR1的同相輸入端，電感L1和電容C2的另一端連接運放器AR3的同相輸入端，電阻R3的另一端通過電容C3接地。

4.根據權利要求1所述模擬斷路器測試裝置，其特征在于：所述控制器選用FPGA控制處理模塊。