[發明專利]一種側面下針式彈片微針測試模組

在審

• 申請號: 202111139946.2
• 申請日: 2021-09-28
• 公開（公告）號: CN113917206A
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: 尹靜軍;楊先昭;謝時雨
• 申請（專利權）人: 珠海市運泰利自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R1/04;G01R31/69
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

本發明公開了一種側面下針式彈片微針測試模組，旨在提供一種結構簡單操作簡易、并使用側面接觸待測產品的一種側面下針式彈片微針測試模組。本發明包括底座、測試組件、定位板、浮動塊以及封板，所述測試組件與所述底座相連接，所述定位板與所述測試組件配合連接，所述浮動塊通過若干彈簧與所述定位板浮動連接，所述封板與所述浮動塊貼合并與所述定位塊相連接。本發明應用于連接器測試的技術領域。

技術領域

本發明涉及連接器測試的技術領域,特別涉及一種側面下針式彈片微針測試模組。

背景技術

側插式板對板連接器用于連接不同的電路板或者軟排線，使兩個電路板或者軟排線之間可以實現信號的傳輸。此連接器可分為公頭連接器、母頭連接器，兩種連接器側面均設有若干個導電接觸點。板對板連接器被大量用于3C電子產品，保證其質量是生產過程的重中之重。

目前常用的測試方式是用連接器對扣的方式進行測試，例如使用公頭連接器作為測試裝置去測試母頭連接器，或者使用母頭連接器作為測試裝置去測試公頭連接器。這種方式不僅操作較為復雜，且可能對產品本身造成損耗。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種結構簡單操作簡易、并使用側面接觸待測產品的一種側面下針式彈片微針測試模組。

本發明所采用的技術方案是：本發明包括底座、測試組件、定位板、浮動塊以及封板，所述測試組件與所述底座相連接，所述定位板與所述測試組件配合連接，所述浮動塊通過若干彈簧與所述定位板浮動連接，所述封板與所述浮動塊貼合并與所述定位塊相連接。

進一步，所述測試組件包括若干彈片微針、兩組微針固定件以及壓板，兩組所述微針固定件上設置有若干針槽，若干所述彈片微針對應與若干所述針槽配合連接，兩組所述微針固定件與所述底座相連接，若干所述彈片微針均設置有卡耳，所述壓板的下端與所述卡耳貼合，所述壓板與所述底座相連接。

進一步，所述定位板的中部設置有若干針孔，若干所述針孔對應與若干所述彈片微針配合連接，所述定位板的中部還設置有凹槽，所述凹槽的內部對稱設置有若干沉頭孔，若干所述彈簧的一端分別與若干所述沉頭孔相連接，若干所述彈簧的另一端均與所述浮動塊相連接，所述浮動塊的中部設置有開口。

進一步，所述底座上設置有若干卡槽，若干所述卡槽對應與若干所述卡耳相連接。

進一步，所述彈片微針包括第一接觸部、第二接觸部以及彈性連接部，所述第一接觸部與外部導通測試機構相連接，所述第二接觸部與外部待測機構相連接，所述彈性連接部設置在所述第一接觸部與所述第二接觸部之間。

進一步，所述第二接觸部設置有側邊接頭與底部接頭，所述側邊接頭與所述底部接頭垂直設置。

進一步，所述彈性連接部與所述第二接觸部的連接處設置有傾斜角。

進一步，所述彈性連接部的中部設置有回彈槽。

進一步，所述浮動塊的中部設置有導向孔，所述導向孔與所述定位板之間設置有預留槽。

本發明的有益效果是：本發明采用微針側面接觸的設計，避免待測產品表面造成磨損，延長產品使用壽命；并加入浮動式設計，防止待測產品插入時力度過大，導致彈片微針接觸部剛性損壞。

附圖說明

圖1是本發明的爆炸圖；

圖2是本發明的剖視圖；

圖3是本發明底座與彈片微針配合的結構示意圖；

圖4是圖3中A部分局部放大圖；

圖5是本發明的裝配圖。

具體實施方式