[發(fā)明專利]超晶格超大規(guī)模集成電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111131217.2 | 申請日: | 2019-05-06 |
| 公開(公告)號: | CN113871459B | 公開(公告)日: | 2023-09-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林和 | 申請(專利權(quán))人: | 林和 |
| 主分類號: | H01L29/15 | 分類號: | H01L29/15;H01L29/732;H01L29/735;H01L29/78;H01L29/86;H01L29/8605;H01L29/93;H01L27/02 |
| 代理公司: | 北京冠和權(quán)律師事務(wù)所 11399 | 代理人: | 朱健 |
| 地址: | 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶格 超大規(guī)模集成電路 | ||
1.一種超晶格超大規(guī)模集成電路,其特征在于,包括:
襯底;
過渡層,設(shè)置在所述襯底上方;
元器件層,設(shè)置在所述過渡層上方,元器件層為包含二維電子氣與二維空穴氣的器件所構(gòu)建的超晶格集成電路;
所述器件包括:PNP型超晶格雙極晶體管;
所述PNP型超晶格雙極晶體管分為超晶格平面型P-N-P雙極晶體管和超晶格垂直型P-N-P雙極晶體管;
其中,超晶格垂直型P-N-P雙極晶體管包括:
超晶格集電極P型層,設(shè)置在所述過渡層上方;
超晶格基極N型層,設(shè)置在所述超晶格集電極P型層上方;
超晶格發(fā)射極P型層,設(shè)置在所述超晶格基極N型層上方;
第二P+導(dǎo)電層和第二N+導(dǎo)電層,從所述超晶格發(fā)射極P型層的上表面并向垂直于所述超晶格發(fā)射極P型層的方向向下貫穿至所述超晶格集電極P型層的下表面;
第三溝道絕緣層,從所述超晶格發(fā)射極P型層的上表面并向垂直于所述超晶格發(fā)射極P型層的方向向下貫穿至所述超晶格集電極P型層的下表面,所述第二P+導(dǎo)電層和第二N+導(dǎo)電層設(shè)置在所述第三溝道絕緣層內(nèi);
第五歐姆接觸層,設(shè)置在所述第二P+導(dǎo)電層上方并與所述第二P+導(dǎo)電層接觸;
第六歐姆接觸層,設(shè)置在所述第二N+導(dǎo)電層上方并與所述第二N+導(dǎo)電層接觸;
第七歐姆接觸層,設(shè)置在所述超晶格發(fā)射極P型層上方并與所述超晶格發(fā)射極P型層接觸,
第五介電保護(hù)層,設(shè)置在所述第七歐姆接觸層和第五歐姆接觸層、所述第七歐姆接觸層和第六歐姆接觸層之間;
第六介電保護(hù)層,設(shè)置所述第五歐姆接觸層、第六歐姆接觸層外側(cè)。
第七介電保護(hù)層,設(shè)置在所述超晶格發(fā)射極P型層和所述第二N+導(dǎo)電層、所述超晶格發(fā)射極P型層和所述第二P+導(dǎo)電層之間;
其中,超晶格平面型P-N-P雙極晶體管包括:
超晶格平面型P-N-P雙極晶體管包括:
超晶格發(fā)射極P型區(qū),為圓柱型,設(shè)置在所述過渡層上方;
超晶格基極N型區(qū)46,為環(huán)形,設(shè)置在所述過渡層上方且套設(shè)在所述超晶格發(fā)射極P型區(qū)外側(cè);
超晶格集電極P型區(qū),為環(huán)形,設(shè)置在所述過渡層上方且套設(shè)在設(shè)置在所述超晶格基極N型區(qū)46外側(cè);
第四溝道絕緣層,為環(huán)形,套設(shè)在設(shè)置在所述超晶格基極P型區(qū)外側(cè),并且,所述第四溝道絕緣層設(shè)置在所述過渡層上方或者設(shè)置在所述過渡層上方且貫穿所述過渡層后嵌入所述襯底內(nèi);
第八歐姆接觸層為圓形,設(shè)置在所述超晶格發(fā)射極P型區(qū)上方并與所述超晶格發(fā)射極P型區(qū)接觸;
第九歐姆接觸層為環(huán)形,設(shè)置在所述超晶格基極N型區(qū)46上方并與所述超晶格基極N型區(qū)46接觸;
第十歐姆接觸層為環(huán)形,設(shè)置在所述超晶格集電極P型區(qū)上方并與所述超晶格集電極P型區(qū)接觸;
第八介電保護(hù)層,為環(huán)形,設(shè)置在所述第八歐姆接觸層和第九歐姆接觸層之間;
第九介電保護(hù)層,為環(huán)形,設(shè)置所述第九歐姆接觸層和第十歐姆接觸層之間;
第十介電保護(hù)層,為環(huán)形,設(shè)置在所述第十歐姆接觸層的外側(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的超晶格超大規(guī)模集成電路,其特征在于,所述襯底采用硅,鍺或化合物半導(dǎo)體。
3.如權(quán)利要求1所述的超晶格超大規(guī)模集成電路,其特征在于,所述過渡層采用二氧化硅、氮化硅和化合物半導(dǎo)體層其中一種。
4.如權(quán)利要求1所述的超晶格超大規(guī)模集成電路,其特征在于,襯底底部均勻分布有多個通孔。
5.如權(quán)利要求1所述的超晶格超大規(guī)模集成電路,其特征在于,超晶格集電極P型層、超晶格基極N型層和超晶格發(fā)射極P型層,既可以采用同質(zhì)的半導(dǎo)體超晶格層,也可以采用異質(zhì)的半導(dǎo)體超晶格層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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