[發明專利]波長測量裝置及方法在審
| 申請號: | 202111129025.8 | 申請日: | 2021-09-26 |
| 公開(公告)號: | CN113654672A | 公開(公告)日: | 2021-11-16 |
| 發明(設計)人: | 張建偉;施文心 | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | G01J9/00 | 分類號: | G01J9/00 |
| 代理公司: | 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606 | 代理人: | 吳娜娜 |
| 地址: | 10008*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 波長 測量 裝置 方法 | ||
1.一種波長測量裝置,其特征在于,包括:
激光發射器(100);
光開關裝置(200),包括光輸出口(210)和多個光輸入口(220),所述激光發射器(100)與所述多個光輸入口(220)連接,所述光開關裝置(200)用于切換所述多個光輸入口(220)的導通狀態;以及
波長計(300),與所述光輸出口(210)連接。
2.如權利要求1所述的波長測量裝置,其特征在于,包括:
控制裝置(400),與所述光開關裝置(200)連接,用于通過所述光開關裝置(200)切換所述多個光輸入口(220)的導通狀態。
3.如權利要求2所述的波長測量裝置,其特征在于,所述控制裝置包括:
單片機(410),所述單片機(410)與所述光開關裝置(200)連接;
計算機(420),與所述單片機(410)連接,所述計算機(420)通過所述單片機(410)控制所述光開關裝置(200)切換所述多個光輸入口(210)的導通狀態。
4.如權利要求3所述的波長測量裝置,其特征在于,所述單片機(410)與所述激光發射器(100)連接,用于調整所述激光發射器(100)頻率。
5.如權利要求3所述的波長測量裝置,其特征在于,所述計算機(420)與所述波長計(300)連接,用于校準所述波長計(300)。
6.如權利要求1所述的波長測量裝置,其特征在于,每個所述光輸入口(220)設置有第一耦合器(610),所述激光發射器(100)通過所述第一耦合器(610)與所述光開關裝置(200)連接。
7.如權利要求1所述的波長測量裝置,其特征在于,所述光輸出口(210)設置有第二耦合器(620),所述波長計(300)通過所述第二耦合器(620)與所述光開關裝置(200)連接。
8.一種波長測量的方法,采用權利要求1所述的波長測量裝置,其特征在于,所述激光發射器(100)包括第一激光器(110),所述方法包括:
S10,選擇所述第一激光器(110)輸出的第一激光;
S20,控制所述光開關裝置(200)切換與所述第一激光對應的所述光輸入口(220)導通。
9.如權利要求8所述的波長測量的方法,其特征在于,所述波長測量裝置還包括控制裝置(400),所述控制裝置(400)分別與所述光開關裝置(200)、所述激光發射器(100)和所述波長計(300)連接,所述方法包括:
S30,所述控制裝置(400)將所述波長計(300)測量的所述第一激光的第一波長值與第一標準值比較,若第一比較結果在第一預設范圍外,則調整所述第一激光器(110)輸出的所述第一激光的波長。
10.如權利要求8所述的波長測量的方法,其特征在于,所述激光發射器(100)還包括第二激光器(120),包括:
S11,選擇所述第二激光器(120)輸出的第二激光,所述第二激光器的穩定性高于所述第一激光器的穩定性;
S12,所述控制裝置(400)將所述波長計(300)測量的所述第二激光的第二波長值與第二標準值比較,若第二比較結果在第二預設范圍外,則校準所述波長計(300)。
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