[發明專利]激光加工參數確定方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202111123429.6
• 申請日: 2021-09-24
• 公開（公告）號: CN113902269A
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發明（設計）人: 袁松梅;危家勇;張家齊;周寧;高孟玄
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/04
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王治東

1.一種激光加工參數確定方法，其特征在于，包括：

獲取激光加工質量目標；

根據所述激光加工質量目標與影響參數的關聯關系，確定候選影響參數序列；

對所述候選影響參數序列中各個候選影響參數進行參數向量分析，得到響應參考值；所述候選影響參數序列中包括參數上限序列和參數下限序列；

對所述參數上限序列中的候選第一參數與所述參數下限序列中的候選第二參數進行交換，得到第一實驗參數序列和第二實驗參數序列，所述候選第一參數在所述參數上限序列中的排序與所述候選第二參數在所述第二實驗參數序列中的排序相同；

基于所述第一實驗參數序列和所述第二實驗參數序列，得到響應結果值；

基于所述響應參考值和所述響應結果值，確定所述激光加工參數。

2.根據權利要求1所述的激光加工參數確定方法，其特征在于，所述響應結果值包括第一響應結果值和第二響應結果值，所述基于所述第一實驗參數序列和所述第二實驗參數序列，得到響應結果值包括：

對所述第一實驗參數序列中各個候選第一實驗參數進行參數向量分析，得到所述第一實驗參數序列對應的所述第一響應結果值；以及，對所述第二實驗參數序列中各個候選第二實驗參數進行參數向量分析，得到所述第二實驗參數序列對應的所述第二響應結果值；

執行對所述第一實驗參數序列中各個候選第一實驗參數進行參數向量分析，得到第一響應結果值序列，以及，執行對所述第二實驗參數序列中各個候選第二實驗參數進行參數向量分析，得到第二響應結果值序列。

3.根據權利要求2所述的激光加工參數確定方法，其特征在于，所述對所述候選影響參數序列中各個候選影響參數進行參數向量分析，得到響應參考值包括：

對所述候選影響參數序列中各個候選影響參數進行參數向量分析，得到所述候選影響參數序列對應的參數上限序列和參數下限序列；

對所述參數上限序列中各個參數進行兩次參數向量分析，分別得到第一響應參考值和第二響應參考值；

對所述參數下限序列中各個參數進行兩次參數向量分析，分別得到第三響應參考值和第四響應參考值；

基于所述第一響應參考值、所述第二響應參考值、所述第三響應參考值和所述第四響應參考值，得到響應參考值。

4.根據權利要求3所述的激光加工參數確定方法，其特征在于，所述響應參考值包括第一子值和第二子值，所述基于所述第一響應參考值、所述第二響應參考值、所述第三響應參考值和所述第四響應參考值，得到響應參考值包括：

根據所述響應參考值的約束條件，對所述第一響應參考值和所述第二響應參考值進行調節，得到所述第一子值；以及，對所述第三響應參考值和所述第四響應參考值進行調節，得到所述第二子值。

5.根據權利要求4所述的激光加工參數確定方法，其特征在于，所述基于所述響應參考值和所述響應結果值，確定所述激光加工參數包括：

若所述第一響應結果值序列中的候選響應結果值與所述第二子值的誤差小于等于誤差閾值，則將所述候選響應結果值對應的影響參數確定為所述激光加工參數。

6.根據權利要求5所述的激光加工參數確定方法，其特征在于，所述基于所述響應參考值和所述響應結果值，確定所述激光加工參數包括：

若所述第一響應結果值序列中的所述候選響應結果值與所述第一子值的誤差大于所述誤差閾值，則基于所述第二響應結果值序列，確定所述激光加工參數。

7.根據權利要求6所述的激光加工參數確定方法，其特征在于，所述基于所述第二響應結果值序列，確定所述激光加工參數包括：

若所述第二響應結果值序列中的候選響應結果值與所述第一子值的誤差小于等于所述誤差閾值，則將所述候選響應結果值對應的影響參數確定為所述激光加工參數。