[發明專利]一種考慮鍵合線斷裂的IGBT模塊老化失效分析方法在審
| 申請號： | 202111123047.3 | 申請日： | 2021-09-24 |
| 公開（公告）號： | CN113987747A | 公開（公告）日： | 2022-01-28 |
| 發明（設計）人： | 葛雪峰;袁曉冬;史明明;張宸宇;費駿韜;陳雯嘉;劉瑞煌 | 申請（專利權）人： | 國網江蘇省電力有限公司電力科學研究院;國網江蘇省電力有限公司;江蘇省電力試驗研究院有限公司 |
| 主分類號： | G06F30/20 | 分類號： | G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 丁博寒 |
| 地址： | 211103 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 考慮 鍵合線 斷裂 igbt 模塊 老化 失效 分析 方法 | ||
1.一種考慮鍵合線斷裂的IGBT模塊老化失效分析方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟一，利用PSpice得到IGBT模塊在工況下的損耗；
步驟二，根據IGBT模塊的實際尺寸建立鍵合線不同斷裂情況下的有限元模型；
步驟三，通過ANSYS Thermal-Electric對步驟一得到的IGBT模塊模型進行熱電耦合分析；
步驟四，將步驟二中得到的溫度場結果導入ANSYS Workbench Static Structure中進行電-熱-結構耦合分析，得到IGBT模塊各位置的應力應變結果；
步驟五，通過ANSYS nCode DesignLife軟件對IGBT模塊進行疲勞分析，完成對于鍵合線不同斷裂情況下IGBT模塊的老化失效分析。
2.根據權利要求1所述的一種考慮鍵合線斷裂的IGBT模塊老化失效分析方法，其特征在于，所述步驟一包括：在PSpice中搭建功率模塊電路，然后再加入Q3D提取出的寄生參數，計算一個周期下的IGBT模塊的損耗平均值。
3.根據權利要求1所述的一種考慮鍵合線斷裂的IGBT模塊老化失效分析方法，其特征在于，將含斷裂鍵合線的三維有限元模型導入ANSYS Thermal-Electric與ANSYSWorkbench Static Structure中，進行網格劃分，并將實際工況下的電熱應力施加到IGBT模塊的有限元模型中，進行電-熱-結構耦合分析。
4.根據權利要求1所述的一種考慮鍵合線斷裂的IGBT模塊老化失效分析方法，其特征在于，將所述應力應變結果導入ANSYS nCode DesignLife軟件中，采用ANSYS nCodeDesignLife中的應力疲勞求解引擎nCode SN TimeSeries(DesignLife)對IGBT模塊進行疲勞分析，完成對于鍵合線不同斷裂情況下IGBT模塊的老化失效分析。
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