[發明專利]一種多工位測試設備

在審

• 申請號: 202111119227.4
• 申請日: 2021-09-24
• 公開（公告）號: CN113804416A
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發明（設計）人: 龐凱尹;宋斌杰;羅昌凌;翁巨賢;梁祖榮
• 申請（專利權）人: 珠海市運泰利自動化設備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01D18/00
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

本發明旨在提供一種測試工位多、整體體積小、成本低的多工位測試設備。本發明包括底座、載具移動模組、黑卡測試模組以及雙卡測試模組，載具移動模組包括Y軸驅動機構以及設置在Y軸驅動機構上的升降載具組件，黑卡測試模組和雙卡測試模組設置在載具移動模組的上方且沿Y軸驅動機構的長度方向依次設置，黑卡測試模組包括沿Y軸長度方向依次設置的第一測試工位和第二測試工位，第二測試工位上設置有光學窗口，雙卡測試模組包括X軸驅動機構、Z軸驅動機構以及并列設置在Z軸驅動機構上的灰卡測試組件以及補充卡測試組件，Z軸驅動機構設置在X軸驅動組件的活動端上。本發明應用于光學測試的技術領域。

技術領域

本發明應用于光學測試的技術領域,特別涉及一種多工位測試設備。

背景技術

在圖像傳感芯片的光學測試中，需要通過黑卡、灰卡和補充卡對圖像傳感芯片進行測試，而在不同測試卡和不同的測試距離下，圖像傳感芯片所表現出來的性能并不相同，而傳統的測試設備采用轉盤式或者并排式的設計。由于需要測試多種卡及多種距離，不同距離測試距離需要卡的大小不一樣。如果采用轉盤式，不同的測試卡體積不同，有的需要很大的空間，小卡占空間比較小，顯得不協調。如果都采用單一方向并排式，則同樣也需要占用較大的空間。

如公開號為208887897U的中國專利，其公開了一種應用于光學元件測試上的灰、黑卡暗箱結構，通過設置在所述暗箱外的灰卡移動裝置，實現灰卡和黑卡的切換，進而實現提供一種更緊湊的測試結構，但如果需要兼容更多種類的測試環境，由于單個裝置的結構較大，增加多個工位則還是會導致體積大幅增加。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供了一種測試工位多、整體體積小、成本低的多工位測試設備。

本發明所采用的技術方案是：本發明包括底座、載具移動模組、黑卡測試模組以及雙卡測試模組，所述載具移動模組包括Y軸驅動機構以及設置在所述Y軸驅動機構上的升降載具組件，所述黑卡測試模組和所述雙卡測試模組設置在所述載具移動模組的上方且沿所述Y軸驅動機構的長度方向依次設置，所述黑卡測試模組包括沿所述Y軸長度方向依次設置的第一測試工位和第二測試工位，所述第二測試工位上設置有光學窗口，所述雙卡測試模組包括X軸驅動機構、Z軸驅動機構以及并列設置在所述Z軸驅動機構上的灰卡測試組件以及補充卡測試組件，所述Z軸驅動機構設置在所述X軸驅動組件的活動端上。

由上述方案可見，由于黑卡、灰卡和補充卡大小不同，其中黑卡為面積較大的測試卡，而灰卡和補充卡均為面積較小的測試卡，其中補充卡用于根據待測產品特性進行設置的特定顏色或特定光學特性的測試卡，利用大卡和小卡在面積大小上的差異，將多個不同的工位巧妙的通過Y方向并排和X方向并排放到同一臺設備中，有效的減小了測試設備的體積和降低設備的成本。利用大灰卡和補充卡在大小和測試距離相同或相近，將其安排在相近的工位中，這樣可以共用Y軸的測試工位，也可以共用Z軸控制不同測試卡的不同測試距離。有效的減小了測試設備的體積和降低設備的成本。所述Y軸驅動機構用于帶動所述升降載具組件移動到所述黑卡測試模組以及所述雙卡測試模組的測試工位下，并通過所述升降載具組件的升降功能實現與測試模組對接。通過將所述黑卡測試模組的兩組測試工位沿所述Y軸驅動機構的長度方向設置，進而保證兩組測試工位均能夠與所述升降載具組件配合。通過所述X軸驅動機構帶動所述灰卡測試組件以及所述補充卡測試組件切換工位，進而實現所述灰卡測試組件以及所述補充卡測試組件共用一個測試工位，同時通過所述Z軸驅動機構進行所述灰卡測試組件以及所述補充卡測試組件的高度位置調整。

一個優選方案是，所述升降載具組件包括移動板、升降架、升降驅動機構以及夾緊組件，所述移動板與所述Y軸驅動機構的活動端連接，所述升降架沿豎直方向滑動配合在所述移動板上，所述升降驅動機構固定在所述移動板上，所述升降架與所述升降驅動機構的活動端上連接，所述升降架上設置有產品限位槽，所述夾緊組件設置在所述產品限位槽的一側。