[發明專利]一種基于耦合電容技術的環網柜局部放電的檢測方法

在審

• 申請號: 202111117627.1
• 申請日: 2021-09-23
• 公開（公告）號: CN113740685A
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 趙培偉;龐強;胡兵;金加元
• 申請（專利權）人: 南京尚華電力科技有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 北京華沛德權律師事務所 11302
• 代理人: 馬苗苗

1.一種基于耦合電容技術的環網柜局部放電的檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1：低頻電壓檢測：

A1：將示波器與環網柜外表面的三相核相孔相連接，開啟示波器并讀取示波器的示數，對三相核相孔的交流電壓進行檢測；

A2：將示波器所顯示的三相核相孔的交流電壓與三相核相孔的交流電壓的正常值范圍進行對比，判斷環網柜的三相核相孔交流電壓值是否正常；

A3：若該環網柜的三相核相孔交流電壓值正常，則通過示波器對下一個環網柜的三相核相孔的交流電壓進行檢測，若該環網柜的三相核相孔交流電壓值異常，則將示波器示數代入公式可知，主分壓電容絕緣材料介電常數發生異常；

A4：根據A3步驟所得出的結論半段環網柜中耦合電容絕緣性能是否達標；S2：高頻脈沖檢測：

A1：將與局放阻抗及頻率都匹配的耦合傳感器插入環網柜外表面的三相核相孔的內部；

A2：通過與局放阻抗及頻率都匹配的耦合傳感器配套的示波器觀察三相核相孔的內部是否放電信號；

A3：若該環網柜的三相核相孔內部無放電信號，則通過局放阻抗及頻率都匹配的耦合傳感器對下一個環網柜的三相核相孔進行檢測，若該環網柜的三相核相孔內部有放電信號，將示波器檢測的放電信號與放電頻率參數進行對比；

A4：可以根據A3步驟中對比的信號幅值來判斷內部放電信號的強弱。

2.根據權利要求1所述的一種基于耦合電容技術的環網柜局部放電的檢測方法，其特征在于：所述S1步驟中的A2步驟中三相核相孔的交流電壓的正常值范圍為30-60V。

3.根據權利要求1所述的一種基于耦合電容技術的環網柜局部放電的檢測方法，其特征在于：所述S2步驟中A3步驟中放電頻率參數為300-1500MHz。

4.根據權利要求1所述的一種基于耦合電容技術的環網柜局部放電的檢測方法，其特征在于：所述S1步驟中A3步驟中的介電常數跟材料絕緣性能有關，且介電常數的參考值為：環氧樹脂：3-4，空氣：1.00585，水：70-80。