[發明專利]紅外反射傳感器識別DUT放平校準的方法及裝置

在審

• 申請號: 202111116586.4
• 申請日: 2021-09-23
• 公開（公告）號: CN113701714A
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 陳啟恩;袁承范;陳焱國;孫德滔;韓雪濤
• 申請（專利權）人: 深圳市微特精密科技股份有限公司
• 主分類號: G01C9/00
• 分類號: G01C9/00;G01C9/06;G01C15/00
• 代理公司: 北京精金石知識產權代理有限公司 11470
• 代理人: 楊蘭蘭

1.紅外反射傳感器識別DUT放平校準的方法，其特征在于，所述方法包括：

S10：設定電壓參考電路的參考電壓；

S11：在紅外反射傳感器的有效距離d處放置DUT，得到紅外反射傳感器的輸出電壓；

S12：通過電壓比較器比較電壓參考電路的參考電壓和紅外反射傳感器的輸出電壓，得到電壓比較器的輸出狀態；

S13：根據電壓比較器的輸出狀態，得到MCU識別狀態和指示器的指示狀態；

S14：根據指示器的指示狀態，校正并更新電壓參考電路的參考電壓；

S15：根據步驟S14中校正更新后的參考電壓進行DUT放平識別檢測。

2.根據權利要求1所述的紅外反射傳感器識別DUT放平校準的方法，其特征在于，所述S12：通過電壓比較器比較電壓參考電路的參考電壓和紅外反射傳感器的輸出電壓，得到電壓比較器的輸出狀態，具體包括：

當紅外反射傳感器的輸出電壓高于電壓參考電路的參考電壓時，電壓比較器的輸出狀態為1；當紅外反射傳感器的輸出電壓低于電壓參考電路的參考電壓時，電壓比較器的輸出狀態為2。

3.根據權利要求2所述的紅外反射傳感器識別DUT放平校準的方法，其特征在于，所述S13：根據電壓比較器輸出狀態，得到MCU識別狀態和指示器的指示狀態，具體包括：

當電壓比較器輸出狀態為1時，MCU的識別狀態為：未放平，同時指示器燈亮；

當電壓比較器輸出狀態為2時，MCU的識別狀態為：已放平，同時指示器燈滅。

4.根據權利要求3所述的紅外反射傳感器識別DUT放平校準的方法，其特征在于，所述S14：根據指示器的指示狀態，校正并更新電壓參考電路的參考電壓，具體包括：

若指示器燈亮，表明設置的參考電壓小于紅外反射傳感器的輸出電壓，則增大參考電壓的值，直至指示器剛好處于由燈亮變為燈滅的臨界狀態；

若指示器燈滅，表明設置的參考電壓高于紅外反射傳感器的輸出電壓，則減小參考電壓的值，直至指示器剛好處于由燈滅即將變為燈亮而又未亮的臨界狀態；

將所述指示器處于臨界狀態時對應的參考電壓值更新為最終的參考電壓。

5.根據權利要求4所述的紅外反射傳感器識別DUT放平校準的方法，其特征在于，所述S15：根據步驟S14中校正更新后的參考電壓進行DUT放平識別檢測，具體包括：

在紅外反射傳感器的有效距離d處放置DUT，根據步驟S14中校正更新后的參考電壓進行DUT放平識別檢測；

當紅外反射傳感器的輸出電壓大于參考電壓時，電壓比較器輸出狀態為1，表明DUT板邊未在紅外反射傳感器的有效距離內，紅外反射傳感器未識別到待測物DUT，MCU的識別狀態為：未放平，同時指示器燈亮；

當紅外反射傳感器的輸出電壓小于參考電壓時，電壓比較器輸出狀態為2，表明DUT板邊在紅外反射傳感器的有效距離內，紅外反射傳感器識別到待測物DUT，MCU的識別狀態為：已放平，同時指示器燈滅。

6.根據權利要求1-5任一項所述的紅外反射傳感器識別DUT放平校準的方法，其特征在于，步驟S15中采用2個或2個以上的紅外反射傳感器分別放置在待測物DUT的對角位置進行放平識別檢測，所述紅外反射傳感器與DUT的板邊距離為d，d為紅外反射傳感器的有效識別距離。

7.紅外反射傳感器識別DUT放平校準的裝置，其特征在于，包括若干個紅外反射傳感器識別裝置，所述紅外反射傳感器識別裝置包括：

紅外反射傳感器：包括紅外光發生裝置和紅外光接收裝置，用于發射和接收紅外光；

參考電壓模塊：包括電壓參考電路，用于設置參考電壓；

電壓比較模塊：包括電壓比較器，用于比較紅外反射傳感器Q1的輸出電壓與參考電壓，得到電壓比較器輸出狀態；

結果輸出模塊：包括指示器和MCU，所述指示器用于指示檢測結果，所述MCU用于判斷并輸出DUT放平識別結果；

所述紅外反射傳感器連接所述電壓比較器的正極，所述電壓參考電路連接所述電壓比較器的負極，所述指示器連接所述電壓比較器的輸出端，所述MCU的IO接口也連接所述電壓比較器的輸出端。