[發明專利]一種針間距自適應調節的測試連接頭

在審

• 申請號: 202111114250.4
• 申請日: 2021-09-23
• 公開（公告）號: CN114034886A
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發明（設計）人: 顧翼;張明虎;石堅;周厚平;孫崇鈞;丁超
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七0九研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 武漢河山金堂專利事務所(普通合伙) 42212
• 代理人: 胡清堂

本發明提供了一種針間距自適應調節的測試連接頭，其包括信號探針和接地探針，所述信號探針或接地探針中的其中至少一個探針通過間距調節模塊活動設置，所述間距調節模塊調節探針在信號探針和接地探針連接定位的直線方向左右運動。通過設置間距調節模塊帶動探針活動設置，使探針在信號探針和接地探針連接定位的直線方向左右運動，從而調整信號探針和接地探針之間的間距，以適配不同規格平面測試接口電信號測量工作，提升測試連接頭對于不同規格尺寸的被測對象的兼容性。

技術領域

本發明涉及集成電路測試技術領域，特別涉及一種針間距自適應調節的測試連接頭。

背景技術

在電路板測試領域，特別是集成電路測試系統計量領域，被測量電信號的接口多以平面測試接口的形式出現，一般為銅焊盤(pad)通過金屬探針按壓接觸平面測試接口，將電信號從平面測試接口導出。不同型號的電路板或者不同型號的集成電路測試系統的平面信號接口規格也不同，主要區別在于信號接口和接地接口之間的間距不一致，焊盤大小也有所區別。為適應不同間距的平面測試接口，往往需要使用與之間距相匹配的測試探針，傳統的探針間距固定，無法調整。為適配不同規格平面測試接口電信號測量，需要配置不同規格的探針，容易出現現有規格探針與被測平面測試接口尺寸不兼容的情況，因此需要設計一種針間距可調的測試連接頭，解決平面測試接口測試兼容性的問題。

發明內容

本發明提供一種針間距自適應調節的測試連接頭，用以解決上述提出的技術問題。

本發明提供一種針間距自適應調節的測試連接頭，所述測試連接頭包括信號探針和接地探針，所述信號探針或接地探針中的其中至少一個探針通過間距調節模塊活動設置，所述間距調節模塊調節探針在信號探針和接地探針連接定位的直線方向左右運動；

所述間距調節模塊包括設置在探針一側的驅動抵接部件以及相對設置在探針另一側的復位抵接部件，所述驅動抵接部件與一驅動部件的動力輸出軸傳動連接，在驅動部件的動力作用下抵接探針沿信號探針和接地探針連接定位的直線方向左或向右運動，所述復位抵接部件根據探針兩側的受力情況抵接探針向左或向右運動。

優選的，所述間距調節模塊包括：

一驅動部件；

一與所述驅動部件的動力輸出軸傳動連接的螺桿；

螺紋配合套裝在所述螺桿上、并能夠在螺桿上左右滑動的抵接滑塊，所述抵接滑塊與探針固定連接；

相對抵接滑塊與探針另一側抵接設置的復位抵接部件。

優選的，所述間距調節模塊包括：

一動力輸出軸豎直設置的驅動部件，

一與所述驅動部件的動力輸出軸傳動連接的螺桿；

螺紋配合套裝在所述螺桿上、并能夠在螺桿上左右滑動的第一梯形抵接滑塊；以及

與所述第一梯形抵接滑塊互補抵接設置的第二梯形抵接滑塊，所述第二梯形抵接滑塊與探針固定連接；

相對第二梯形抵接滑塊與探針另一側抵接設置的復位抵接部件。

優選的，所述第一梯形抵接滑塊的斜面角度與第二梯形抵接滑塊的斜面角度互補設置。

優選的，所述第二梯形抵接滑塊的斜面行程大于第一梯形抵接滑塊的斜面行程。

優選的，所述測試連接頭包括一封裝體，所述信號探針和接地探針的頂端均設置在所述封裝體中，另一自由端豎直向下伸出封裝體設置，所述封裝體相對可調節的探針設有調節通槽。

優選的，所述信號探針和接地探針的頂端與封裝體之間均設有彈性緩沖部件。