[發明專利]一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置

在審

• 申請號: 202111113012.1
• 申請日: 2021-09-18
• 公開（公告）號: CN113607757A
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發明（設計）人: 楊塞新;孫運斌
• 申請（專利權）人: 三兄弟（珠海）科技有限公司
• 主分類號: G01N22/00
• 分類號: G01N22/00
• 代理公司: 北京識然知識產權代理事務所(普通合伙) 11975
• 代理人: 曾慶國

1.一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于，包括：

發射高功率微波的磁控管；

第一檢測裝置，用于檢測照射于材料的所述高功率微波的反射波；

反射波耦合裝置，用于根據所述第一檢測裝置檢測的所述反射波的第一方向，獲取所述反射波，并將所述反射波耦合為渦旋電子；

衍射放大器，用于通過對所述渦旋電子進行衍射，放大擴散所述渦旋電子的波束尺度；

電子分選裝置，用于分離具有不同動量的渦旋電子波束至空間中的不同位置；

接收處理器，用于對分離到不同位置的所述渦旋電子波束進行接收并處理，獲取所述渦旋電子對應的波形數據；

數據處理單元，用于對所述波形數據進行數據處理，獲取用于鑒定所述材料的相關信息。

2.根據權利要求1所述一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于：

所述磁控管包括，

喇叭天線，設置在所述磁控管的下端；

慢波結構腔，封裝于所述喇叭天線的上端，其中，所述慢波結構腔為無磁不銹鋼材料；

銜接過渡腔，封裝于所述慢波結構腔的上端；

永磁體，嵌套在所述慢波結構腔和所述銜接過渡腔之間的磁控管外筒上；

強流二極管，封裝于銜接過渡腔的上端，用于生成所述高功率微波；

氣體捕集裝置，由分別封裝于所述喇叭天線、所述慢波結構腔、所述銜接過渡腔的若干個氣體捕集器組成，用于避免電子束在運動過程中受碰撞程度不一，影響電子束均勻發射。

3.根據權利要求2所述一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于：

所述喇叭天線由封裝成一體的陶瓷輻射面和無磁不銹鋼喇叭組成；

所述氣體捕集器封裝于所述無磁不銹鋼喇叭的上。

4.根據權利要求3所述一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于：

所述永磁體包括第一永磁體以及與所述第一永磁體不存在連接關系的第二永磁體；

所述第一永磁體設置在所述慢波結構腔和所述銜接過渡腔之間靠近所述慢波結構腔的一端；

所述第二永磁體設置在所述慢波結構腔和所述銜接過渡腔之間靠近所述銜接過渡腔的一端。

5.根據權利要求4所述一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于：

所述強流二極管由陶瓷真空界面、無磁不銹鋼陽極、無磁不銹鋼中空陰極桿組成；

所述無磁不銹鋼陽極封裝于所述銜接過渡腔的所述上端，所述無磁不銹鋼陽極的中心設置有用于連接所述無磁不銹鋼中空陰極桿的連接孔；

所述無磁不銹鋼中空陰極桿靠近所述連接孔的一端的外部連接有所述陶瓷真空界面；

所述無磁不銹鋼中空陰極桿設置在所述磁控管的內部的中心軸上。

6.根據權利要求5所述一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于：

所述無磁不銹鋼中空陰極桿與所述無磁不銹鋼陽極同軸連接。

7.根據權利要求1所述一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于：

所述電磁波檢測裝置還包括第二檢測裝置，所述第二檢測裝置設置于相對于所述第一檢測裝置的第一方向不同的第二方向上，所述第二檢測裝置具有根據照射位置檢測所述反射波的若干個檢測元件。

8.根據權利要求7所述一種用于材料檢測的電磁波檢測裝置，其特征在于：

所述電磁波檢測裝置還包括行波控制裝置，用于根據照射于所述材料的所述電磁波的照射位置，來切換該電磁波的反射波的反射到所述第一檢測裝置和/或第二檢測裝置的反射位置，并更新相關信息；

所述行波控制裝置還用于將更新后的所述相關信息傳輸到所述反射波耦合裝置。