[發明專利]一種數據修復的方法、相關裝置及設備

在審

• 申請號: 202111107523.2
• 申請日: 2021-09-22
• 公開（公告）號: CN115934413A
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 侯韓旭;姜崢藝;韓永祥;白鉑;張弓
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/14
• 分類號: G06F11/14;G06F11/10
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 閔晶晶

1.一種數據修復的方法，其特征在于，所述方法應用于采用(N，K)MDS碼的存儲系統，所述存儲系統中包括N個節點，所述N為正整數，所述方法包括：

若目標節點發生故障，則獲取Y個修復數據，并從第一校驗矩陣中獲取A個第一校驗值，其中，所述第一校驗值為基于節點中存儲的數據以及第二校驗矩陣中存儲的第二校驗值確定的，Y和A均為正整數，且Y≤K，K用于表示所述存儲系統中數據節點的數量；

根據所述A個第一校驗值，從所述第二校驗矩陣中確定B個第二校驗值，其中，所述第二校驗矩陣中一個節點對應的第二校驗值用于計算其他節點對應的第一校驗值，B為正整數，且A+B＜(X-1)K，X為大于1的整數；

根據所述Y個修復數據、所述A個第一校驗值以及所述B個第二校驗值，確定存儲于所述目標節點的X個數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述目標節點發生故障之前，所述方法還包括：

獲取KS+Y個原始數據，其中，S＝X-1；

根據所述KS+Y個原始數據，生成S個(N，K)MDS碼和1個(N，Y)MDS碼，其中，所述S個(N，K)MDS碼包含于所述第二校驗矩陣，所述S個(N，K)MDS碼包括SK個第一數據位和S(N-K)個第一校驗位，所述1個(N，Y)MDS碼包括N-Y個第二校驗位。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

從所述N-Y個第二校驗位中，獲取N-Y-1個第二校驗位；

根據所述SK個第一數據位、所述S(N-K)個第一校驗位和所述N-Y-1個第二校驗位，生成所述第一校驗矩陣。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述目標節點為所述數據節點或者校驗節點，其中，所述數據節點包括數據位，或者所述數據節點包括所述數據位和校驗位；所述校驗節點包括校驗位。

5.一種數據修復裝置，其特點在于，所述數據修復裝置包含于采用(N，K)MDS碼的存儲系統，所述存儲系統中包括N個節點，所述N為正整數，所述裝置包括：

獲取單元，用于若目標節點發生故障，則獲取Y個修復數據，并從第一校驗矩陣中獲取A個第一校驗值，其中，所述第一校驗值為基于節點中存儲的數據以及第二校驗矩陣中存儲的第二校驗值確定的，Y和A均為正整數，且Y≤K，K用于表示所述存儲系統中數據節點的數量；

處理單元，用于根據所述A個第一校驗值，從所述第二校驗矩陣中確定B個第二校驗值，其中，所述第二校驗矩陣中一個節點對應的第二校驗值用于計算其他節點對應的第一校驗值，B為正整數，且A+B＜(X-1)K，X為大于1的整數；

所述處理單元，還用于根據所述Y個修復數據、所述A個第一校驗值以及所述B個第二校驗值，確定存儲于所述目標節點的X個數據。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元，還用于獲取KS+Y個原始數據，其中，S＝X-1；

所述處理單元，還用于根據所述KS+Y個原始數據，生成S個(N，K)MDS碼和1個(N，Y)MDS碼，其中，所述S個(N，K)MDS碼包含于所述第二校驗矩陣，所述S個(N，K)MDS碼包括SK個第一數據位和S(N-K)個第一校驗位，所述1個(N，Y)MDS碼包括N-Y個第二校驗位。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元，還用于從所述N-Y個第二校驗位中，獲取N-Y-1個第二校驗位；

所述處理單元，還用于根據所述SK個第一數據位、所述S(N-K)個第一校驗位和所述N-Y-1個第二校驗位，生成所述第一校驗矩陣。

8.根據權利要求5至7中任一項所述的裝置，其特征在于，所述目標節點為所述數據節點或者校驗節點，其中，所述數據節點包括數據位，或者所述數據節點包括所述數據位和校驗位；所述校驗節點包括校驗位。