[發明專利]一種數據存儲方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202111087922.7
• 申請日: 2021-09-16
• 公開（公告）號: CN113778340B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 馬晨琳;周卓鎧;周池;毛睿;王毅
• 申請（專利權）人: 深圳大學
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 李靜玉

本申請提供一種數據存儲方法、裝置、電子設備及存儲介質，該方法包括：獲取當前存儲介質中各存儲單元的屬性信息；其中，屬性信息用于表征存儲單元的折損程度；根據各存儲單元的屬性信息，確定當前存儲介質中的高容錯單元；判斷待存儲數據是否為高容錯數據；當待存儲數據為高容錯數據時，將待存儲數據存儲至高容錯單元。上述方案提供的方法，通過將折損嚴重的存儲單元作為高容錯單元，并利用高容錯單元存儲高容錯數據，延長了存儲單元的可用壽命，進而延長了存儲介質的整體可用壽命。

技術領域

本申請涉及存儲介質管理技術領域，尤其涉及一種數據存儲方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

隨著存儲技術的不斷發展，存儲介質的存儲密度持續增加。但由于硬件特性，在不可進行就地更新的存儲介質(如閃存、疊瓦式磁盤等)中，存儲介質的可用壽命也不可避免地持續縮短。因此，如何延長存儲介質的可用壽命是亟待解決的技術難題。

在現有技術中，通常是基于負載均衡優化策略，將存儲器的讀寫磨損盡可能均勻分布到各個存儲單元上，從而減緩個別存儲介質的折舊速率。

但是，存儲介質是否可用是根據報廢存儲單元所占的比例來確定的，現有技術只能避免部分存儲單元過早損壞導致整個存儲介質報廢，并不能實際地延長存儲單元的可用壽命。

發明內容

本申請提供一種數據存儲方法、裝置、電子設備及存儲介質，以解決現有技術不能實際地延長存儲單元的可用壽命等缺陷。

本申請第一個方面提供一種數據存儲方法，包括：

獲取當前存儲介質中各存儲單元的屬性信息；其中，所述屬性信息用于表征存儲單元的折損程度；

根據各所述存儲單元的屬性信息，確定所述當前存儲介質中的高容錯單元；

判斷待存儲數據是否為高容錯數據；

當所述待存儲數據為高容錯數據時，將所述待存儲數據存儲至所述高容錯單元。

可選的，所述存儲單元的屬性信息至少包括已擦除次數和數據比特翻轉率，所述根據各所述存儲單元的屬性信息，確定所述當前存儲介質中的高容錯單元，包括：

根據所述存儲單元的已擦除次數和數據比特翻轉率，計算所述存儲單元的折舊因子；

當所述存儲單元的折舊因子大于預設的普通單元折舊閾值且小于預設的高容錯單元折舊閾值時，確定所述存儲單元為高容錯單元。

可選的，在將所述待存儲數據存儲至所述高容錯單元之前，所述方法還包括：

獲取預設數量的最近歷史數據的數據分布信息；其中，所述數據分布信息包括所述最近歷史數據中寫請求操作的數量和所述請求操作的平均間隔；

根據所述預設數量的最近歷史數據的數據分布信息，確定存儲單元的重生臨界值；

根據當前存儲介質中高容錯單元的數量和所述重生臨界值之間的大小關系，判斷是否啟用所述高容錯單元。

可選的，若確定啟用所述高容錯單元，在將所述待存儲數據存儲至所述高容錯單元之前，所述方法還包括：

獲取各所述高容錯單元的當前存儲量；

根據各所述高容錯單元的當前存儲量和預設的存儲單元飽和量，判斷當前是否有可用高容錯單元。

可選的，還包括：

若確定不啟用所述高容錯單元或當前沒有可用存儲單元，則將所述待存儲數據存儲至普通單元。

可選的，所述判斷待存儲數據是否為高容錯數據，包括：

判斷所述待存儲數據是否攜帶有數據糾錯碼；