[發明專利]一種正弦信號參數測量方法及系統在審
| 申請號: | 202111073630.8 | 申請日: | 2021-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN113791260A | 公開(公告)日: | 2021-12-14 |
| 發明(設計)人: | 司朝良;劉文江;武曉明;丁曉冬;何為凱 | 申請(專利權)人: | 山東交通學院 |
| 主分類號: | G01R13/02 | 分類號: | G01R13/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 250023 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 正弦 信號 參數 測量方法 系統 | ||
本發明屬于儀器儀表技術領域,具體涉及一種正弦信號的參數測量方法及系統。本發明利用DDS本振源的頻率精細調節,將頻率范圍很寬的正弦信號經過混頻后變成頻率單一的中頻信號,借助于高分辨率A/D轉換器和FIFO存儲器,精確測量信號幅度;同時利用波形變換器將正弦信號變成方波信號,使得頻率測量更方便,測量精度更高。
技術領域
本發明涉及儀器儀表技術領域的信號測量技術,具體涉及一種正弦信號的參數測量方法及系統。
背景技術
在儀器儀表、通信等領域,為了實現特定的目的,經常需要對正弦信號的幅值、有效值、周期、頻率等參數進行測量?,F有的正弦信號參數測量方法很多,最常用的測量手段是采用示波器進行測量,也可以采用真有效值轉換器實現對正弦信號有效值的測量,用測周法或測頻法實現對正弦信號周期和頻率的測量。
現有的正弦信號參數測量方法各有不同的缺點,示波器測量法受其本身電路頻帶寬度或人為讀數因素的限制,測量精度較低;而其他的測量方法要么只能測量有效值等幅度參數,要么只能測量頻率或周期等時間參數,一種方法往往不能既測量幅度參數又測量時間參數,而且可測量的正弦信號頻率較低。
發明內容
為了克服上述技術問題的缺點,本發明提供了一種功能齊全、測量準確的正弦信號參數測量方法及系統。
本發明的正弦信號參數測量方法,其特別之處在于,包括以下步驟:a)選取一個雙刀雙擲型繼電器J,靜態時,繼電器J的靜觸點B1、B2分別與公共端子C1、C2接通,將被測正弦信號us從繼電器的公共端子C1引入,繼電器的公共端子C2連接到混頻器的射頻輸入端RF;b)所述繼電器的兩個靜觸點B1、B2用導線短路,繼電器的動觸點A1連接到衰減器的輸入端,衰減器的輸出端連接到繼電器的動觸點A2;c)所述混頻器的本振輸入端LO連接到DDS本振源的輸出端,混頻器的中頻輸出端經匹配電阻連到帶通濾波器的輸入端,帶通濾波器輸出的中頻信號uI分成兩路,一路連接到波形變換器的輸入端,另一路輸送到差分匹配網絡;d)所述混頻器RF端的被測信號頻率fS、LO端的本振信號頻率fL和帶通濾波器輸出的中頻信號頻率fI滿足公式(1):
fI=fL-fS (1);
e)所述波形變換器輸出的方波信號uP接到STM32微控制器的一個可以配置為PWM輸入捕獲模式的GPIO引腳;f)所述中頻信號uI經過差分匹配網絡后,輸送到A/D轉換器的模擬電壓輸入端,A/D轉換器的數據輸出端連接到FIFO存儲器的數據輸入端,FIFO存儲器的數據輸出端連接到STM32微控制器的I/O口;g)所述STM32微控制器通過時鐘線控制A/D轉換器的模數轉換過程和轉換數據實時輸出;h)所述STM32微控制器通過時鐘線、控制線和數據線與DDS本振源相連,基于對被測信號頻率fS的預估值,從鍵盤置入數值設定DDS本振源的輸出正弦波信號頻率fL,使得依據公式(1)算出的fI=455kHz;i)所述STM32微控制器將與波形變換器輸出uP相連的GPIO引腳配置為PWM輸入捕獲模式,并測算出uP的方波信號頻率fIC,fIC是公式(1)中fI的測量值;若fIC的數值偏離455kHz超過10kHz,則依據測算值,利用公式(1)重新計算,并從鍵盤重新置入fL的頻率值,使得fIC在445kHz~465kHz之間,再測量得到最終的方波信號頻率fIC;j)所述STM32微控制器根據最終置入的fL值,依據公式(2)計算得到被測正弦信號的頻率fSC:
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