[發明專利]一種機構箱密封膠條老化性能檢測方法

在審

• 申請號: 202111072316.8
• 申請日: 2021-09-14
• 公開（公告）號: CN113686769A
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發明（設計）人: 劉桂嬋;彭家寧;黃云光;周福升;高超;黃若棟;楊蕓;熊佳明;王國利
• 申請（專利權）人: 廣西電網有限責任公司電力科學研究院;南方電網科學研究院有限責任公司
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00
• 代理公司: 西安正華恒遠知識產權代理事務所(普通合伙) 61271
• 代理人: 傅曉

1.一種機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)構建GIS密封膠條材料老化試驗平臺，所述GIS密封膠條材料老化試驗平臺包括濕熱老化試驗系統和測試分析系統；

(2)將橡膠材料置于GIS密封膠條材料老化試驗平臺中，分別使其處于加熱環境、擠壓壓縮環境、加濕環境和鹽環境中，檢測膠條在不同環境中的老化程度。

2.根據權利要求1所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，所述濕熱老化試驗系統包括環境控制系統和試樣壓縮裝置；所述環境控制系統包括電熱鼓風干燥箱。

3.根據權利要求1所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，所述測試分析系統包括硬度檢測裝置、分子結構檢測裝置和圍觀檢測裝置。

4.根據權利要求1所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，所述加熱環境的溫度為110～130℃。

5.根據權利要求1所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，所述擠壓壓縮環境的構建過程為：當膠條試樣硬度在10～80IRHD時，設置壓縮率為25～30％。

6.根據權利要求1所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，所述加濕環境的構建方法為：將蒸餾水均勻噴覆在膠條試樣表面；或將膠條試樣浸泡在蒸餾水中。

7.根據權利要求1所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，所述鹽環境的構建方法為：配置質量分數為4～6％的氯化鈉溶液，將其噴淋至膠條試樣表面；或將膠條試樣浸泡至其中。

8.根據權利要求1所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，檢測膠條在不同環境中的老化程度的過程為：采用紅外光譜、掃描電鏡以及X射線電子能譜分析檢測膠條的壓縮永久變形率和硬度。

9.根據權利要求8所述的機構箱密封膠條老化性能檢測方法，其特征在于，所述壓縮永久變形率的計算公式為：

其中，d₀為密封膠條原始截徑,d_p為恢復后截徑，h_D是密封膠條所在槽的深度。