[發明專利]應用PCB微阻測試設備在審
| 申請號: | 202111058682.8 | 申請日: | 2021-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN113721133A | 公開(公告)日: | 2021-11-30 |
| 發明(設計)人: | 劉平梅;王小梅;程精真 | 申請(專利權)人: | 深圳市容華輝電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R27/02;G01R1/02 |
| 代理公司: | 深圳市輝泓專利代理有限公司 44510 | 代理人: | 劉海軍;孟強 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 應用 pcb 測試 設備 | ||
1.應用PCB微阻測試設備,其特征在于:包括輸入傳送帶(1)和輸出傳送帶(2),所述輸入傳送帶(1)和所述輸出傳送帶(2)之間設置有平行移動組件(3)和PCB托送板(4),所述PCB托送板(4)安裝于所述平行移動組件(3)上用于保持所述PCB托送板(4)平行移動,所述輸入傳送帶(1)和所述輸出傳送帶(2)靠近所述PCB托送板(4)一端處各設置有第一錯位接口(5),所述PCB托送板(4)兩端各設置有第二錯位結構(6),所述平行移動組件(3)上設置有用于控制所述PCB托送板(4)依次朝左、朝右及朝上方向循環移動的軌道驅動組件(7),所述軌道驅動組件(7)上設置有用于和所述PCB托送板(4)配合檢測PCB板電阻的檢測裝置(8)。
2.根據權利要求1所述的應用PCB微阻測試設備,其特征在于:所述平行移動組件(3)包括橫移軌道(301),所述橫移軌道(301)上活動設置有橫移活動塊(302),所述橫移活動塊(302)上設置有豎向軸套(303),所述PCB托送板(4)下表面設置有豎向軸體(304),所述豎向軸體(304)穿插于所述豎向軸套(303)內上下活動。
3.根據權利要求2所述的應用PCB微阻測試設備,其特征在于:所述PCB托送板(4)包括設置于所述豎向軸體(304)上端的支撐斜板(401),所述支撐斜板(401)朝向所述輸出傳送帶(2)一側傾斜設置,所述第一錯位接口(5)為傾斜設置。
4.根據權利要求3所述的應用PCB微阻測試設備,其特征在于:所述第一錯位接口(5)包括橫向布置的多個第一缺口;所述第二錯位結構(6)包括橫向布置且和多個第一缺口相互讓位的多個第二缺口。
5.根據權利要求4所述的應用PCB微阻測試設備,其特征在于:所述軌道驅動組件(7)包括設置于所述橫移軌道(301)上的支撐架(701),所述支撐架(701)上設置有軌道面板(702),所述軌道面板(702)上設置有閉環式驅動軌道槽(703),所述閉環式驅動軌道槽(703),所述閉環式驅動軌道槽(703)中間的所述軌道面板(702)上設置有伺服旋轉電機(707),所述伺服旋轉電機(707)輸出端設置有擺動桿(704),所述擺動桿(704)上設置有直槽口(705),所述閉環式驅動軌道槽(703)內活動設置有驅動軸體,所述驅動軸體穿插于所述直槽口(705)并延伸至所述直槽口(705)外和所述PCB托送板(4)表面固定連接。
6.根據權利要求5所述的應用PCB微阻測試設備,其特征在于:所述閉環式驅動軌道槽(703)包括底部橫軌(7031)、連接設置于所述底部橫軌(7031)兩端的側豎軌(7032)、分別連接于兩個所述側豎軌(7032)上端的兩個斜軌(7033),兩個所述斜軌(7033)朝內側傾斜,兩個所述斜軌(7033)上端連接有上凸的弧形軌(7034)。
7.根據權利要求6所述的應用PCB微阻測試設備,其特征在于:所述檢測裝置(8)包括設置于所述軌道面板(702)上的電阻檢測裝置(801),所述電阻檢測裝置(801)上設置有檢測端(802)。
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