[發(fā)明專利]一種檢測光學(xué)膜的方法、裝置及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111056750.7
• 申請日: 2021-09-09
• 公開（公告）號: CN113933296A
• 公開（公告）日: 2022-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳精文;陳重宇;吳省賢
• 申請（專利權(quán)）人: 住華科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N21/01;G01M11/00;G01M11/04;G06T7/00
• 代理公司: 北京律誠同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006
• 代理人: 徐金國

本揭露提出一種檢測光學(xué)膜的方法、裝置及系統(tǒng)，檢測光學(xué)膜的方法包括：通過一光學(xué)感測器拍攝一待檢測光學(xué)膜以三種角度放置于一平臺(tái)上的待檢測影像；接收所述光學(xué)感測器所傳送的所述待檢測影像；以及利用所述辨識(shí)模型對所述待檢測影像進(jìn)行檢測以判斷所述待檢測光學(xué)膜的屬性。

技術(shù)領(lǐng)域

本揭露是有關(guān)于一種檢測光學(xué)膜的方法、裝置及系統(tǒng)，且特別是有關(guān)于利用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的一種檢測光學(xué)膜的方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

由于光學(xué)膜制程中裁切機(jī)構(gòu)并無分辨光學(xué)膜表面保護(hù)膜與離型膜的功能，因此在光學(xué)膜裁切后，須通過生產(chǎn)線人員耗費(fèi)大量時(shí)間以人工目測方式來檢查分類。

然而，人工目測檢查光學(xué)膜并將其分類容易發(fā)生失誤。

因此，需要一種檢測光學(xué)膜的方法、裝置及系統(tǒng)，以取代人工目測方式分辨表面保護(hù)膜與離型膜，以提升產(chǎn)能。

發(fā)明內(nèi)容

以下揭露的內(nèi)容僅為示例性的，且不意指以任何方式加以限制。除所述說明方面、實(shí)施方式和特征之外，透過參照附圖和下述具體實(shí)施方式，其他方面、實(shí)施方式和特征也將顯而易見。即，以下揭露的內(nèi)容被提供以介紹概念、重點(diǎn)、益處及本文所描述新穎且非顯而易見的技術(shù)優(yōu)勢。所選擇，非所有的，實(shí)施例將進(jìn)一步詳細(xì)描述如下。因此，以下揭露的內(nèi)容并不意旨在所要求保護(hù)主題的必要特征，也不意旨在決定所要求保護(hù)主題的范圍中使用。

因此，本揭露的主要目的即在于提供一種檢測光學(xué)膜的方法、裝置及系統(tǒng)，以改善上述缺點(diǎn)。

本揭露提出一種檢測光學(xué)膜的系統(tǒng)，包括：一平臺(tái)；一光學(xué)感測器，拍攝一待檢測光學(xué)膜以三種角度放置于所述平臺(tái)上的表面以產(chǎn)生三個(gè)待檢測影像；以及一計(jì)算裝置，執(zhí)行：接收由所述光學(xué)感測器所傳送的所述待檢測影像；以及利用一辨識(shí)模型對所述待檢測影像進(jìn)行檢測以判斷所述待檢測光學(xué)膜的屬性。

本揭露提出一種檢測光學(xué)膜的方法，包括：通過一光學(xué)感測器拍攝一待檢測光學(xué)膜以三種角度放置于一平臺(tái)上的待檢測影像；接收所述光學(xué)感測器所傳送的所述待檢測影像；以及利用一辨識(shí)模型對所述待檢測影像進(jìn)行檢測以判斷所述待檢測光學(xué)膜的屬性。

本揭露提出一種檢測光學(xué)膜的裝置，包括：至少一圖形處理器；以及至少一計(jì)算機(jī)儲(chǔ)存媒體，儲(chǔ)存計(jì)算機(jī)可讀取指令，其中所述圖形處理器使用所述計(jì)算機(jī)儲(chǔ)存媒體以執(zhí)行：接收由一光學(xué)感測器拍攝一待檢測光學(xué)膜以三種角度放置于一平臺(tái)上的待檢測影像；以及利用一辨識(shí)模型對所述待檢測影像進(jìn)行檢測以判斷所述待檢測光學(xué)膜的屬性。

附圖說明

圖1是顯示光學(xué)膜組成的示意圖；

圖2是顯示光學(xué)膜的表面保護(hù)膜或離型膜以不同角度拍攝的影像；

圖3是顯示根據(jù)本揭露一實(shí)施例中檢測光學(xué)膜的系統(tǒng)的示例性示意圖；

圖4是顯示根據(jù)本揭露一實(shí)施例所述的檢測光學(xué)膜的方法的流程圖；

圖5是顯示根據(jù)本揭露一實(shí)施例所述的識(shí)別裝置利用辨識(shí)模型判斷上述待檢測光學(xué)膜的屬性的方法的流程圖；

圖6是顯示根據(jù)本揭露一實(shí)施例的識(shí)別光學(xué)膜屬性的數(shù)據(jù)的表格；

圖7是顯示用以實(shí)現(xiàn)本揭露實(shí)施例的示例性操作環(huán)境。

【符號說明】

100:光學(xué)膜

102:表面保護(hù)膜

104:保護(hù)層

106:偏光基體

108:保護(hù)層

110:粘著劑層

112:離型膜

300:系統(tǒng)