[發明專利]一種圖像處理方法、裝置及電子設備在審
| 申請號: | 202111051724.5 | 申請日: | 2021-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN113689422A | 公開(公告)日: | 2021-11-23 |
| 發明(設計)人: | 趙穎;孟祥涵;湯嘉楓 | 申請(專利權)人: | 理光軟件研究所(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/55;G06T7/70;G06T7/80;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京市隆安律師事務所 11323 | 代理人: | 權鮮枝;何健 |
| 地址: | 100044 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 處理 方法 裝置 電子設備 | ||
1.一種圖像處理方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取雙目相機采集的左圖像和右圖像;
對所述左圖像和所述右圖像進行物體檢測,得到所述左圖像的物體檢測結果和所述右圖像的物體檢測結果,所述物體檢測結果包括物體檢測框的位置和類別;
將所述左圖像的物體檢測結果和所述右圖像的物體檢測結果進行匹配,得到匹配結果,所述匹配結果包括物體檢測框對;
根據所述匹配結果自適應確定深度信息計算模型;
根據所述左圖像的物體檢測結果和所述右圖像的物體檢測結果以及所述深度信息計算模型,確定物體深度信息。
2.根據權利要求1所述方法,其特征在于,所述將所述左圖像的物體檢測結果和所述右圖像的物體檢測結果進行匹配,得到匹配結果包括:
基于預設匹配算法,將所述左圖像的物體檢測框的位置和類別與所述右圖像的物體檢測框的位置和類別進行匹配;
將匹配成功的左圖像的物體檢測框與右圖像的物體檢測框構成所述物體檢測框對。
3.根據權利要求1所述方法,其特征在于,所述深度信息計算模型包括第一深度信息計算模型和第二深度信息計算模型,所述物體檢測框對包括左物體檢測框與右物體檢測框,所述根據所述匹配結果自適應確定深度信息計算模型包括:
確定所述左物體檢測框與所述右物體檢測框是否水平對齊,且所述左物體檢測框與所述右物體檢測框的視差值是否大于預設視差值閾值;
若是,則確定所述深度信息計算模型為第二深度信息計算模型;
否則,則確定所述深度信息計算模型為第一深度信息計算模型。
4.根據權利要求3所述方法,其特征在于,所述確定所述左物體檢測框與右物體檢測框是否水平對齊,且所述左物體檢測框與所述右物體檢測框的視差值是否大于預設視差值閾值包括:
提取所述左物體檢測框和所述右物體檢測框的位置坐標;
根據所述左物體檢測框和所述右物體檢測框的位置坐標中的縱坐標,確定所述左物體檢測框與所述右物體檢測框是否水平對齊;
根據所述左物體檢測框和所述右物體檢測框的位置坐標中的橫坐標,確定所述左物體檢測框與所述右物體檢測框的視差值是否大于預設視差值閾值。
5.根據權利要求3所述方法,其特征在于,在確定所述深度信息計算模型為第一深度信息計算模型的情況下,所述根據所述左圖像的物體檢測結果和所述右圖像的物體檢測結果以及所述深度信息計算模型,確定物體深度信息包括:
根據所述左物體檢測框的位置,分別提取所述左物體檢測框在所述左圖像上的第一左局部區域以及在所述右圖像上對應的第一右局部區域;
根據所述右物體檢測框的位置,分別提取所述右物體檢測框在所述左圖像上對應的第二左局部區域以及在所述右圖像上的第二右局部區域;
根據所述第一左局部區域和所述第一右局部區域生成第一局部深度圖,以及根據所述第二左局部區域和所述第二右局部區域生成第二局部深度圖;
將所述第一局部深度圖與所述第二局部深度圖進行融合,得到所述物體深度信息。
6.根據權利要求3所述方法,其特征在于,在確定所述深度信息計算模型為第二深度信息計算模型的情況下,所述根據所述左圖像的物體檢測結果和所述右圖像的物體檢測結果以及所述深度信息計算模型,確定物體深度信息包括:
提取所述物體檢測框對的角點位置坐標;
根據所述物體檢測框對的角點位置坐標,確定所述物體深度信息。
7.根據權利要求6所述方法,其特征在于,所述根據所述物體檢測框對的角點位置坐標,確定所述物體深度信息包括:
根據所述物體檢測框對的角點位置坐標,確定所述物體檢測框對的中心點位置坐標,所述物體檢測框對的中心點位置坐標包括左物體檢測框的中心點位置坐標和右物體檢測框的中心點位置坐標;
確定所述左物體檢測框的中心點位置坐標與所述右物體檢測框的中心點位置坐標的差值,作為所述左物體檢測框與所述右物體檢測框的視差值;
根據所述左物體檢測框與所述右物體檢測框的視差值,以及所述雙目相機的內參,確定所述物體深度信息。
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