[發明專利]一種Micro-LED芯片的巨量轉移方法在審
| 申請號: | 202111051684.4 | 申請日: | 2021-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN113690171A | 公開(公告)日: | 2021-11-23 |
| 發明(設計)人: | 劉召軍;容沃鋮;羅冰清;李嘉怡;蔣府龍;劉亞瑩 | 申請(專利權)人: | 南方科技大學 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L27/15 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 潘登 |
| 地址: | 518055 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 micro led 芯片 巨量 轉移 方法 | ||
本發明實施例公開了一種Micro?LED芯片的巨量轉移方法,包括:提供一藍寶石襯底,在藍寶石襯底上形成LED芯片陣列;在LED芯片陣列的第一表面黏附藍膜并去除藍寶石襯底;拉伸藍膜以使LED芯片陣列中的芯片間距達到預設距離;通過超分辨率PDMS印章吸附LED芯片陣列的第二表面并去除藍膜,其中,超分辨率PDMS印章吸附LED芯片陣列的區域包括由多個孔洞組成的孔洞陣列,孔洞的尺寸小于LED芯片陣列的芯片尺寸,孔洞陣列的孔洞密度大于LED芯片陣列的芯片密度;移動超分辨率PDMS印章至驅動基板后剝離超分辨率PDMS印章,以使LED芯片陣列轉移至驅動基板。本發明實施例在印章吸附LED芯片時無需對準,即簡化了操作,又加快了轉移速度,進而提高轉移效率和精確性。
技術領域
本發明實施例涉及半導體技術領域,尤其涉及一種Micro-LED芯片的巨量轉移方法。
背景技術
微型發光二極管(Micro Light-Emitting Diode,Micro-LED)是新一代顯示技術,相較于OLED(Organic Light Emitting Display,有機發光二極管)技術,Micro-LED亮度更高、發光效率更好、但功耗更低,因此其市場前景備受看好。
在Micro-LED顯示器件制作過程中,需要將大量的Micro-LED芯片從原始襯底轉移到驅動電路基板上排列成陣列,這稱為Micro LED芯片的巨量轉移。印章轉移技術是芯片巨量轉移技術中的一種,如圖1所示,印章1上具有多個用于吸附芯片3的凸起2,在轉移時,首先將凸起2與芯片3對準,然后通過凸起2吸附芯片3,移動印章1至驅動基板4上方,使芯片3與驅動基板4對準,最后剝離印章1使芯片3轉移至驅動基板4。Micro-LED芯片尺寸非常細小(通常為幾十微米),在對準時稍有偏差就會對最終形成的器件形成產生影響。現有高精度對準設備通常是在晶圓廠使用的,能達到納米精度,但成本可以說是天價。Micro-LED巨量轉移技術加工方通常為封裝廠,沒有條件采用高價高精度對準設備,因此目前巨量轉移中倒裝的精度很難達到幾微米。同時,通常通過加熱或加壓方式實現印章剝離,加熱加壓使印章凸起向外膨脹,這就會導致對準后的芯片與驅動基板之間產生偏差,進而影響器件性能。
發明內容
有鑒于此,本發明實施例提供一種Micro-LED芯片的巨量轉移方法,以降低Micro-LED芯片的對對準難度、轉移難度,提高轉移精度。
本發明實施例提供一種Micro-LED芯片的巨量轉移方法,包括:
提供一藍寶石襯底,在所述藍寶石襯底上形成LED芯片陣列;
在所述LED芯片陣列的第一表面黏附藍膜并去除所述藍寶石襯底;
拉伸所述藍膜以使所述LED芯片陣列中的芯片間距達到預設距離;
通過超分辨率PDMS印章吸附所述LED芯片陣列的第二表面并去除所述藍膜,其中,所述超分辨率PDMS印章吸附所述LED芯片陣列的區域包括由多個孔洞組成的孔洞陣列,所述孔洞的尺寸小于所述LED芯片陣列的芯片尺寸,所述孔洞陣列的孔洞密度大于所述LED芯片陣列的芯片密度;
移動所述超分辨率PDMS印章至驅動基板后剝離所述超分辨率PDMS印章,以使所述LED芯片陣列轉移至所述驅動基板。
進一步的,所述在所述LED芯片陣列的第一表面黏附藍膜并去除所述藍寶石襯底之前,還包括:
在所述LED芯片陣列的第一表面形成完全覆蓋所述LED芯片陣列的保護層。
進一步的,所述在所述LED芯片陣列的第一表面黏附藍膜并去除所述藍寶石襯底包括:
在所述保護層上黏附藍膜并通過激光剝離技術去除所述藍寶石襯底。
進一步的,所述通過超分辨率PDMS印章吸附所述LED芯片陣列的第二表面并去除所述藍膜之前,還包括:
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





