[發明專利]檢查裝置和系統、超聲波診斷裝置、聲耦合裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202111048368.1
• 申請日: 2021-09-08
• 公開（公告）號: CN114159092A
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 牧田裕久;小笠原洋一
• 申請（專利權）人: 佳能醫療系統株式會社
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00;A61B8/08
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 夏斌

本發明涉及檢查裝置和系統、超聲波診斷裝置、聲耦合裝置及存儲介質。實施方式的檢查裝置具有檢測部以及檢查部。實施方式的檢查裝置具有檢測部以及檢查部。檢測部檢測由超聲波探頭發送并通過了與上述超聲波探頭的聲放射面緊貼的聲耦合材的超聲波反射而通過了上述聲耦合材的反射波的波形。檢查部基于由上述檢測部檢測到的波形，檢查上述超聲波探頭的性能。

技術領域

本說明書以及附圖所公開的實施方式涉及檢查裝置、檢查系統、超聲波診斷裝置、聲耦合裝置以及存儲介質。

背景技術

在超聲波探頭的聲放射部排列有多個振子。關于超聲波探頭，例如當長時間使用時，受到振子劣化、使用環境的影響，特性會隨時間發生變化。因此，通過定期地檢查超聲波探頭的性能，來確認超聲波探頭的性能，并確認超聲波探頭未產生異常。

在確認超聲波探頭的性能時，以往，例如，通過檢查用的夾具固定超聲波探頭，在超聲波探頭發送超聲波的方向上隔著水等溶劑而設置反射板，并利用使超聲波探頭朝向該反射板發送的超聲波的反射波的波形等。但是，在該方法中，通過夾具固定超聲波探頭時的對準較困難，難以穩定地進行檢查。或者，還存在利用超聲波探頭發送的超聲波由透鏡面反射后的反射波來檢查超聲波探頭的性能的技術。但是，在該技術中，有時反射波中包含的噪聲較大，難以進行性能的檢查。

專利文獻1：日本特開平7-178083號公報

發明內容

本說明書以及附圖所公開的實施方式要解決的課題在于，能夠通過簡單的裝置高精度地檢查超聲波探頭的性能。但是，本說明書以及附圖所公開的實施方式要解決的課題并不限定于上述課題。也能夠將與后述的實施方式所示的各構成所帶來的各效果對應的課題定位為其他課題。

實施方式的檢查裝置具有檢測部以及檢查部。檢測部檢測由超聲波探頭發送且通過了與上述超聲波探頭的聲放射面緊貼的聲耦合材的超聲波反射、并通過了上述聲耦合材的反射波的波形。檢查部基于由上述檢測部檢測到的波形，檢查上述超聲波探頭的性能。

附圖說明

圖1是表示第1實施方式的檢查系統1的構成的一例的圖。

圖2是第1實施方式的超聲波探頭10的局部放大截面圖。

圖3是表示由第1實施方式的檢查裝置100檢測的信號波形的時間變化的圖。

圖4是第1實施方式的未設置聲耦合材20的超聲波探頭10的局部放大截面圖。

圖5是表示在第1實施方式的超聲波探頭10未設置聲耦合材20的情況下由檢查裝置100檢測的信號波形的時間變化的圖。

圖6是表示第2實施方式的檢查系統2的構成的一例的圖。

圖7是表示第3實施方式的檢查系統3的構成的一例的圖。

圖8是表示第4實施方式的檢查系統4的構成的一例的圖。

圖9是表示第5實施方式的超聲波診斷系統5的構成的一例的圖。

符號的說明

1～4：檢查系統；5：超聲波診斷系統；10：超聲波探頭；12：振子；14：透鏡；16：聲放射面；20：聲耦合材；30：聲耦合裝置；32：反射板；34：支承部件；40：聲耦合單元；100：檢查裝置；110、310：收發電路；120、320：處理電路；121、321：檢測功能；122、322：檢查功能；123、323：顯示控制功能；124、324：取得功能；130、330：存儲器；131：協議；200：顯示器裝置；210：IC標簽；220：IC標簽讀取器；300：超聲波診斷裝置；325：診斷功能；330：存儲器。

具體實施方式

以下，參照附圖對實施方式的檢查裝置、檢查系統、超聲波診斷裝置、聲耦合裝置以及存儲介質進行說明。