[發(fā)明專利]一種雙軸承孔同軸度誤差視覺測量裝置及測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111045864.1 | 申請日: | 2021-09-07 |
| 公開(公告)號: | CN113804128A | 公開(公告)日: | 2021-12-17 |
| 發(fā)明(設計)人: | 張國鋒;楊樹明;胡鵬宇;劉勇;鄧惠文;段宇;瞿興 | 申請(專利權)人: | 西安交通大學 |
| 主分類號: | G01B11/27 | 分類號: | G01B11/27 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 白文佳 |
| 地址: | 710049 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 軸承 同軸 誤差 視覺 測量 裝置 測量方法 | ||
1.一種雙軸承孔同軸度誤差視覺測量方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、調(diào)節(jié)第一視覺測量單元(3)使第一軸承孔(1)成像清晰,調(diào)節(jié)第二視覺測量單元(4)使第二軸承孔(2)成像清晰;
S2、利用靶標對第一視覺測量單元(3)和第二視覺測量單元(4)進行標定,得到第一視覺測量單元(3)和第二視覺測量單元(4)之間的相對位置關系;
S3、利用第一視覺測量單元(3)采集第一軸承孔(1)的端面點云數(shù)據(jù),計算第一軸承孔(1)在端面的圓心坐標和端面法線,進而擬合第一軸線方程;利用第二視覺測量單元(4)采集第二軸承孔(2)的端面點云數(shù)據(jù),計算第二軸承孔(2)在端面的圓心坐標和端面法線,進而擬合第二軸線方程;
S4、結合S2所得第一視覺測量單元(3)和第二視覺測量單元(4)之間的相對位置關系,將S3所得第一軸線方程和第二軸線方程轉化到統(tǒng)一坐標系,即可得到雙軸承孔的同軸度誤差評價參數(shù)。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種雙軸承孔同軸度誤差視覺測量方法,其特征在于,S2中,靶標由四個子靶標固連而成;
其中,第一子靶標(7)位于第一視覺測量單元(3)的視場范圍內(nèi);第四子靶標(10)位于第二視覺測量單元(4)的視場范圍內(nèi);
其中,第一子靶標(7)與第二子靶標(8)固連,第三子靶標(9)與第四子靶標(10)固連。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種雙軸承孔同軸度誤差視覺測量方法,其特征在于,S2中,利用靶標對第一視覺測量單元(3)和第二視覺測量單元(4)進行標定,得到第一視覺測量單元(3)和第二視覺測量單元(4)之間的相對位置關系,其步驟如下:
S201、先標定大視場相機(11),然后利用大視場相機(11)采集第一子靶標(7)與第二子靶標(8)處于同一視場的圖片、第三子靶標(9)與第四子靶標(10)處于同一視場的圖片;再次標定大視場相機(11),然后采集第二子靶標(8)與第三子靶標(9)處于同一視場圖片;
利用各個子靶標與大視場相機(11)的外參,求解第一子靶標(7)與第二子靶標(8)的旋轉矩陣R12、第二子靶標(8)與第三子靶標(9)的旋轉矩陣R23、第三子靶標(9)與第四子靶標(10)的旋轉矩陣R34、第一子靶標(7)與第二子靶標(8)的平移矩陣T12、第二子靶標(8)與第三子靶標(9)的平移矩陣T23、第三子靶標(9)與第四子靶標(10)的平移矩陣T34;進而求解第一子靶標(7)與第四子靶標(10)的旋轉矩陣R14,以及第一子靶標(7)與第四子靶標(10)的平移矩陣T14;
S202、利用第一視覺測量單元(3)采集第一子靶標(7)圖片,利用第二視覺測量單元(4)采集第四子靶標(10)圖片;利用PnP原理求解第一子靶標(7)與第一視覺測量單元(3)的旋轉矩陣Rb1s1、第四子靶標(10)與第二視覺測量單元(4)的旋轉矩陣Rb4s2、第一子靶標(7)與第一視覺測量單元(3)的平移矩陣Tb1s1、第四子靶標(10)與第二視覺測量單元(4)的平移矩陣Tb4s2;
S203、利用S201求解的旋轉矩陣R14和平移矩陣T14,以及S202求解的旋轉矩陣Rb1s1、平移矩陣Tb1s1、旋轉矩陣Rb4s2和平移矩陣Tb4s2,求解第一視覺測量單元(3)與第二視覺測量單元(4)的旋轉矩陣Rs1s2與第一視覺測量單元(3)與第二視覺測量單元(4)的平移矩陣Ts1s2。
4.根據(jù)權利要求3所述的一種雙軸承孔同軸度誤差視覺測量方法,其特征在于,利用大視場相機(11)參數(shù)及PnP原理,分別求解各個子靶標與大視場相機(11)的外參。
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