[發(fā)明專利]基于時(shí)間卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的鋰離子電池剩余壽命預(yù)測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111039920.0 | 申請日: | 2021-09-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113777496B | 公開(公告)日: | 2023-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王華慶;郭旭東;馬波;宋瀏陽 | 申請(專利權(quán))人: | 北京化工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/367 | 分類號(hào): | G01R31/367;G01R31/392;G06N3/0464;G06N3/084;G06N3/049 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 劉萍 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 時(shí)間 卷積 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 鋰離子電池 剩余 壽命 預(yù)測 方法 | ||
1.基于時(shí)間卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的鋰離子電池剩余壽命預(yù)測方法,其特征在于包括以下步驟:
步驟1:電池在室溫24℃情況下進(jìn)行反復(fù)充放電實(shí)驗(yàn),收集電池老化對(duì)內(nèi)部參數(shù)的影響;
在充放電過程中,以1.5A的恒定電流模式進(jìn)行充電,直到電池電壓達(dá)到4.2V,然后以恒定電壓模式繼續(xù)充電,直到充電電流降至20mA;放電以2A的恒定電流進(jìn)行放電,直至降至2.7V,反復(fù)進(jìn)行充放電過程,直至額定容量從2Ahr降至1.4Ahr;采集鋰離子電池在全壽命周期運(yùn)行過程中,不同工況下的運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)值,包括電池端子電壓、電池輸出電流、電池溫度、負(fù)載測量電流、負(fù)載測量電壓、電池容量、環(huán)境溫度{(x1,x2,x3,x4,x5,x6,x7)}以及剩余壽命y,將參數(shù)按照時(shí)間進(jìn)行組合,得到時(shí)間序列{(x1,x2,x3,x4,x5,x6,x7),y};
步驟2:對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,構(gòu)建訓(xùn)練數(shù)據(jù)集,測試數(shù)據(jù)集便于輸入TCN網(wǎng)絡(luò)
第一步:數(shù)據(jù)清洗;將時(shí)間序列X:{(x1,x2,x3,x4,x5,x6,x7),y}導(dǎo)入?yún)?shù)篩選器,進(jìn)行計(jì)算;計(jì)算公式為
當(dāng)環(huán)境溫度的偏導(dǎo)數(shù)為0,將環(huán)境溫度參數(shù)剔除,得到時(shí)間序列{(x1,x2,x3,x4,x5,x6),y};若環(huán)境溫度的偏導(dǎo)數(shù)不為0,則時(shí)間序列為{(x1,x2,x3,x4,x5,x6,x7),y};
第二步:數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化;
采用最大最小歸一化的方法來消除差異;數(shù)學(xué)表達(dá)示為:
其中x是傳感器數(shù)值,xmin是最小值,xmax是最大值,x'為處理后的數(shù)值;
第三步劃分測試數(shù)據(jù)集和訓(xùn)練數(shù)據(jù)集:
利用訓(xùn)練數(shù)據(jù)構(gòu)造TCN模型的訓(xùn)練集;將全數(shù)據(jù)周期的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練數(shù)據(jù);在后50個(gè)周期中隨機(jī)選擇一個(gè)周期,將此周期之前的所有數(shù)據(jù)作為測試數(shù)據(jù)集;將電池容量作為衡量電池壽命的標(biāo)準(zhǔn),將其設(shè)為標(biāo)簽;
(1)其中訓(xùn)練集表示為[x_train],[y_train],其中:
上式中Vm(i),Am(i),Tm(i),Al(i),Vl(i),C(i)分別代表鋰電池第i個(gè)充放電周期的電池端子電壓、電池輸出電流、電池溫度、負(fù)載測量電流、負(fù)載測量電壓、電池容量;
第四步:獲得剩余壽命標(biāo)簽;
采用滑動(dòng)窗口取樣的方法,時(shí)間窗高度為傳感器數(shù)據(jù)寬度b,長度為設(shè)定長度a,因此樣本矩陣大小為a×b;滑動(dòng)窗口從時(shí)間序列首端開始滑動(dòng),沒有元素時(shí)用0補(bǔ)充,每次移動(dòng)一個(gè)時(shí)間步長得到樣本序列{X1,X2,...,XL},L為電池最大生命周期;
步驟3:搭建TCN網(wǎng)絡(luò)預(yù)測模型,設(shè)置訓(xùn)練參數(shù),進(jìn)行模型訓(xùn)練;
第一步:構(gòu)造TCN模型:
(1)TCN包含兩個(gè)用于卷積運(yùn)算的膨脹因果卷積模塊,兩個(gè)確保非線性化的ReLU層,以及兩個(gè)權(quán)值標(biāo)準(zhǔn)化和丟失層用于標(biāo)準(zhǔn)化和正則化;最后引入額外的1×1卷積來確保剩余塊的輸入和輸出具有相同的寬度;
其中卷積的的計(jì)算公式為:
式中k為濾波器中訓(xùn)練的參數(shù);w為卷積核權(quán)重;xli為第l層的第i個(gè)輸入特征;yli為第l層的第i個(gè)輸出特征,b為偏置默認(rèn)為1;
為了加速網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練過程,保證隱層激活數(shù)據(jù)分布的一致性,采用權(quán)值標(biāo)準(zhǔn)化(BN,Batchnormalization)對(duì)每批數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化;
批標(biāo)準(zhǔn)化的計(jì)算公式如下:
式中y(k)為第k個(gè)神經(jīng)元的輸出響應(yīng);γ(k)為訓(xùn)練的重構(gòu)參數(shù)規(guī)模;β(k)為訓(xùn)練的重構(gòu)參數(shù)轉(zhuǎn)變,ε為極小常數(shù)防止分母為零,E(x)表示均值,表示標(biāo)準(zhǔn)差;初始值為隨機(jī)值,重復(fù)迭代過程,當(dāng)5個(gè)周期內(nèi)損失函數(shù)值不再減小,得出最優(yōu)y,γ,β;
采用ReLU為激活函數(shù),在網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練的反向傳播過程中,當(dāng)輸入小于0時(shí),不能更新權(quán)值;ReLU定義如下:
式中,xi為輸入特征;
(2)因果空洞卷積:
卷積核尺寸為:
k′=d(k-1)+1
其中d是擴(kuò)張系數(shù),k是卷積核大小,k′為擴(kuò)張后的卷積核大小;k′不應(yīng)超過樣本的大小;窗口長度為15,所以選擇卷積核大小為:{5x5,3x3};擴(kuò)張系數(shù)選為{3,2,1},卷積核數(shù)量為{64,32}確保能獲得多尺度的特征信息;
(3)每一個(gè)殘差塊的輸出O如下,其中x為輸入,F(xiàn)(x)為因果空洞卷積計(jì)算:
O=Activation(x+F(x))
Activation為激活函數(shù),選用的激活函數(shù)為ReLU函數(shù),表達(dá)式為
f(x)=max{0,x}
X為輸入,f(x)為輸出;
第二步:選擇均方誤差作為損失函數(shù),數(shù)學(xué)表達(dá)式為
式中:為輸出預(yù)測值;yi為實(shí)際值;n為數(shù)據(jù)時(shí)間序列長度;
訓(xùn)練過程中,選用梯度下降算法,損失通過梯度下降進(jìn)行反向傳播,逐層更新卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的各個(gè)層的可訓(xùn)練參數(shù)即權(quán)重W和偏置b;學(xué)習(xí)速率參數(shù)η用于控制殘差反向傳播的強(qiáng)度:
i為第i層卷積層;η設(shè)定值為0.001;
使用均方根誤差(RMSE)進(jìn)行評(píng)估;
第三步:
完成以上步驟后進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練,訓(xùn)練過程如下:輸入數(shù)據(jù)輸入模型后,首先經(jīng)過因果卷積計(jì)算,進(jìn)行權(quán)重歸一化,然后經(jīng)過激活函數(shù)ReLU進(jìn)行非線性化處理,同時(shí)進(jìn)行隨機(jī)丟失策略Dropout,Dropout取為0.2;經(jīng)過兩次這樣的操作后得到第一個(gè)殘差模塊的輸出,第一個(gè)殘差模塊的輸出作為下一個(gè)殘差模塊的輸入,最后一個(gè)殘差模塊計(jì)算完畢,得到TCN模型的輸出值;殘差塊為數(shù)量為3;迭代計(jì)算過程中使用提前終止策略,當(dāng)均方誤差5個(gè)周期沒有變化,停止訓(xùn)練并保存訓(xùn)練模型;
步驟4:將測試集數(shù)據(jù)按照步驟2進(jìn)行處理,得到訓(xùn)練集樣本;將訓(xùn)練集樣本輸入步驟3訓(xùn)練好的模型,進(jìn)行壽命預(yù)測,輸出剩余壽命值,并進(jìn)行壽命評(píng)估;RMSE值低于10則流程結(jié)束,若高于10重復(fù)步驟三進(jìn)行訓(xùn)練。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
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