[發明專利]一種橋芯片線路板中貴金屬含量測試方法及試樣制備方法

在審

• 申請號: 202111037863.2
• 申請日: 2021-09-06
• 公開（公告）號: CN113654942A
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 彭茜茜;周文斌;秦邦保;王九飆;石秋成;廖杰
• 申請（專利權）人: 珠海格力綠色再生資源有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01N5/04
• 分類號: G01N5/04
• 代理公司: 廣州京諾知識產權代理有限公司 44407
• 代理人: 唐玲玲

1.一種橋芯片線路板中貴金屬含量測試的試樣制備方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、按照標準取線路板樣品，并記錄線路板樣品的重量為M₀；

S2、將所述線路板樣品放入200℃的電磁加熱板上進行加熱，用工具進行各組件脫離，得到光板、卡槽、芯片及其他元器件，并對應記錄重量為M_組件，得到各組件在線路板樣品的重量占比W_組件＝M_組件/M₀；

S3、將各組件放置到600℃馬沸爐中灼燒30min-40min；

S4、冷卻后對各組件進行稱量并記錄為M_剩余，并得到各組件的燒失率D_組件＝(M_組件-M_剩余)/M_組件；

S5、將灼燒后的各組件放入潔凈干燥的研磨儀中分批進行研磨，研磨后將各組件粉末分別過預設目數的篩網，分別得到各組件的至少兩組試樣，并記錄重量為M_組件目數。

2.根據權利要求1所述的一種橋芯片線路板中貴金屬含量測試的試樣制備方法，其特征在于：在S2步驟中通過鑷子對加熱后的各組件進行脫離，得到光板、卡槽和其他元器件的一種作為第一目標組件，并記錄重量為M_目標。

3.根據權利要求2所述的一種橋芯片線路板中貴金屬含量測試的試樣制備方法，其特征在于：

將重量為M_目標的第一目標組件放置在重量為M_鐵盤的鐵盤中，并將鐵盤和第一目標組件放置在600℃馬沸爐中灼燒30min；

冷卻后將第一目標組件進行稱量并記錄為M_目標剩余，并得到該第一目標組件的燒失率D_目標；

將第一目標組件在研磨儀中分批次研磨處理直至研磨完成，其中所述分批次研磨處理包括在研磨儀轉速為1500轉/min的設定下，每次放入100-200g并加入幾滴酒精進行研磨10s；

將研磨完成的第一目標組件粉末過60目篩和100目篩，得到60目篩上、60-100目篩中、100目篩下的第一目標件試樣，并分別記錄為M_目標60、M_目標60-100、M_目標100。

4.根據權利要求1所述的一種橋芯片線路板中貴金屬含量測試的試樣制備方法，其特征在于：

在S2步驟中通過鑷子對加熱后的各組件進行脫離，得到芯片作為第二目標組件，并記錄重量為M_芯片；

在限制區域內用鐵錘敲掉橋芯片上的金屬片，分別收集得到金屬片和塑料，并稱重記錄重量為M_金屬片和M_塑料，得到塑料在芯片的重量占比W_塑料＝M_塑料/M_芯片。

5.根據權利要求4所述的一種橋芯片線路板中貴金屬含量測試的試樣制備方法，其特征在于：

將塑料分批次放入粉碎機中進行粉碎，每次放入200-300g，每次持續60s，同時加入1ml酒精進行粉碎；

將重量為M_塑料的塑料粉碎后放置在重量為M_鐵盤的鐵盤中，并將鐵盤和塑料放置在600℃馬沸爐中灼燒30min-40min；

冷卻后將塑料進行稱量并記錄為M_塑料剩余，并得到該塑料的燒失率D_塑料；

將塑料在研磨儀中分批次研磨處理直至研磨完成，其中所述分批次研磨處理包括在研磨儀轉速為1500轉/min的設定下，每次放入100-200g并加入幾滴酒精進行研磨10s；

將研磨完成的塑料粉末過80目篩，得到80目篩上、80下的塑料試樣，并分別記錄為M_塑料80-和M_塑料80+。