[發(fā)明專利]驗證方法及其裝置、計算機存儲介質(zhì)以及處理器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111027785.8
• 申請日: 2021-09-02
• 公開（公告）號: CN113704126A
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張毅;侯彬
• 申請（專利權(quán)）人: 西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11240
• 代理人: 霍文娟

1.一種驗證方法，其特征在于，包括：

利用預(yù)定函數(shù)對目標參數(shù)進行分類處理，得到分類后的目標參數(shù)；

獲取所述分類后的目標參數(shù)中的負類參數(shù)，并基于所述負類參數(shù)生成測試激勵參數(shù)，其中，所述負類參數(shù)為使測試用例失敗的參數(shù)；

利用所述測試激勵參數(shù)對待驗證模塊進行驗證。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驗證方法，其特征在于，在利用預(yù)定函數(shù)對目標參數(shù)進行分類處理，得到分類后的目標參數(shù)之前，所述方法還包括：

調(diào)用隨機函數(shù)基于所述測試用例中預(yù)先定義的參數(shù)生成所述目標參數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的驗證方法，其特征在于，調(diào)用隨機函數(shù)基于測試用例中預(yù)先定義的所有參數(shù)生成所述目標參數(shù)，包括：

獲取所述測試用例中預(yù)先定義的至少部分參數(shù)；

將所述至少部分參數(shù)約束到預(yù)定范圍，得到初始參數(shù)；

調(diào)用所述隨機函數(shù)基于所述初始參數(shù)生成所述目標參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驗證方法，其特征在于，在利用預(yù)定函數(shù)對目標參數(shù)進行分類處理，得到分類后的目標參數(shù)之前，所述方法還包括：

調(diào)用驗證平臺中驗證環(huán)境所需的所述預(yù)定函數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的驗證方法，其特征在于，在調(diào)用驗證平臺中驗證環(huán)境所需的預(yù)定函數(shù)之前，還包括：獲取所述預(yù)定函數(shù)；

其中，獲取所述預(yù)定函數(shù)，包括：

從第一數(shù)據(jù)庫和第二數(shù)據(jù)庫中獲取樣本數(shù)據(jù)，其中，所述第一數(shù)據(jù)庫中存儲有使測試用例驗證失敗的負類激勵值，所述第二數(shù)據(jù)庫中存儲有使測試用例驗證成功的正類激勵值，所述樣本數(shù)據(jù)中的一部分作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)；

利用所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)對初始網(wǎng)絡(luò)模型進行訓(xùn)練，得到預(yù)定分類模型；

提取所述預(yù)定分類模型中算法的固定參數(shù)；

對所述固定參數(shù)以及所述算法進行封裝，得到所述預(yù)定函數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的驗證方法，其特征在于，提取所述預(yù)定分類模型中算法的固定參數(shù)，包括：

利用所述樣本數(shù)據(jù)中的另外一部分作為測試數(shù)據(jù)，對所述預(yù)定分類模型進行驗證，得到驗證結(jié)果；

在所述驗證結(jié)果表示所述預(yù)定分類模型的分類準確率達到預(yù)定閾值時，提取所述預(yù)定分類模型中算法的固定參數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的驗證方法，其特征在于，對所述固定參數(shù)以及所述算法進行封裝，得到所述預(yù)定函數(shù)，包括：

將所述固定參數(shù)和所述算法轉(zhuǎn)換為C語言函數(shù)；

將所述C語言函數(shù)封裝為SV語言格式，得到所述預(yù)定函數(shù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驗證方法，其特征在于，利用所述預(yù)定函數(shù)對所述目標參數(shù)進行分類處理，得到分類后的目標參數(shù)，包括：

將所述目標參數(shù)轉(zhuǎn)換為與所述測試用例對應(yīng)的參數(shù)矩陣；

利用所述預(yù)定函數(shù)對所述參數(shù)矩陣進行分類處理，得到分類后的目標參數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項所述的驗證方法，其特征在于，所述驗證平臺為通用驗證方法學(xué)UVM驗證平臺。

10.一種驗證裝置，其特征在于，包括：

分類模塊，用于利用預(yù)定函數(shù)對目標參數(shù)進行分類處理，得到分類后的目標參數(shù)；

第一獲取模塊，用于獲取所述分類后的目標參數(shù)中的負類參數(shù)，并基于所述負類參數(shù)生成測試激勵參數(shù)，其中，所述負類參數(shù)為使測試用例失敗的參數(shù)；

第一驗證模塊，用于利用所述測試激勵參數(shù)對待驗證模塊進行驗證。

11.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：存儲器和處理器，其中，所述存儲器存儲有程序指令，所述處理器從所述存儲器調(diào)取所述程序指令以執(zhí)行如權(quán)利要求1至9中任一項所述的驗證方法。

12.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，存儲有程序文件，所述程序文件能夠被執(zhí)行以實現(xiàn)如權(quán)利要求1至9中任一項所述的驗證方法。