[發(fā)明專利]一種多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110995332.8 | 申請日: | 2021-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN113589131A | 公開(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁丙生;劉鎮(zhèn)嶺;王劍斌;嚴(yán)順 | 申請(專利權(quán))人: | 廣州晶合測控技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26;G01R1/04;G01R1/02;G01N21/84;B25H1/02 |
| 代理公司: | 濟(jì)南寶宸專利代理事務(wù)所(普通合伙) 37297 | 代理人: | 荊向勇 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州市高新*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多腔室 tft 光電 穩(wěn)定性 測試 設(shè)備 | ||
1.一種多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,包括:腔室測試主體,其特征在于:所述腔室測試主體包括箱體,所述箱體底部設(shè)置有托板,所述托板上設(shè)置有變溫臺,所述箱體側(cè)面開設(shè)有長條形通孔,所述通孔內(nèi)相對滑動(dòng)的設(shè)置有機(jī)械手。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,其特征在于:所述箱體上壁設(shè)置有觀察窗,所述觀察窗上設(shè)置有遮光密封蓋。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,其特征在于:所述箱體上方還設(shè)置有顯微觀察系統(tǒng),所述顯微觀察系統(tǒng)包括:軌道,所述軌道上設(shè)置有滑塊,所述滑塊上設(shè)置有顯微鏡,所述顯微鏡正下方設(shè)置有顯微觀察窗,所述顯微觀察窗位于變溫臺正上方。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,其特征在于:所述軌道設(shè)置于支架上,所述支架上還通過連桿連接有顯示器,所述顯微鏡和顯示器電連接,所述顯微鏡上設(shè)置有手動(dòng)調(diào)節(jié)裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,其特征在于:所述腔室測試主體包括若干個(gè),若干個(gè)所述腔室測試主體都設(shè)置于桌面上,所述桌面上還設(shè)置有支架。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,其特征在于:所述桌面下方設(shè)置有加熱控制模塊,所述加熱控制模塊與腔室測試主體相連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,其特征在于:所述腔室測試主體還連接有低溫控制柜。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多腔室TFT光電穩(wěn)定性測試設(shè)備,其特征在于:所述腔室測試主體還連接有測試儀表。
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