[發明專利]一種數值孔徑測試系統

在審

• 申請號: 202110995106.X
• 申請日: 2021-08-27
• 公開（公告）號: CN113588221A
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 謝樂;于立民
• 申請（專利權）人: 上海倍藍光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海昱澤專利代理事務所(普通合伙) 31341
• 代理人: 孟波

本發明公開了一種數值孔徑測試系統，包括立柱、粗調導軌、移動平臺和相機，立柱上設有粗調導軌，粗調導軌上設有移動平臺，移動平臺上設有相機，粗調導軌帶動移動平臺移動，移動平臺帶動相機移動，還包括燈箱，燈箱設于移動平臺下。采用上述技術方案制成了一種方便使用的數值孔徑測試系統，適用于透鏡及鏡頭模組的測試，可用于測量鏡片和鏡頭的焦距及數值孔徑。通過使用立式導軌結構，由底部燈箱產生準直平行光源，經待測透鏡或鏡頭模組會聚，形成焦點，再通過高精度一維移動平臺，帶動相機尋找焦點，確定焦點位置，并通過軟件計算焦距和數值孔徑。

技術領域

本發明涉及光學測量領域，特別涉及一種數值孔徑測試系統。

背景技術

數值孔徑是描述光學鏡頭工作性能的重要指標，數值孔徑越大，鏡頭能夠分辨的兩點間距離也越近，目前市面上能檢測鏡頭數值孔徑的設備很少，檢測起來很不方便。

故需要一種方便使用的數值孔徑測試系統。

發明內容

為了解決上述問題，本發明提供一種方便使用的數值孔徑測試系統。

本發明中的一種數值孔徑測試系統，包括立柱、粗調導軌、移動平臺和相機，所述立柱上設有粗調導軌，所述粗調導軌上設有移動平臺，所述移動平臺上設有相機，所述粗調導軌帶動移動平臺移動，所述移動平臺帶動相機移動，還包括燈箱，所述燈箱設于移動平臺下。

上述方案中，還包括平移臺和樣品夾具，所述平移臺上設有樣品夾具，所述樣品夾具設于相機下方。

上述方案中，所述燈箱上設有平移臺。

上述方案中，所述樣品夾具為三爪自準心結構用于固定樣品。

上述方案中，所述移動平臺為高精度一維移動平臺。

上述方案中，所述平移臺為高精度二維平移臺。

本發明的優點和有益效果在于：本發明提供一種方便使用的數值孔徑測試系統，適用于透鏡及鏡頭模組的測試，可用于測量鏡片和鏡頭的焦距及數值孔徑。通過使用立式導軌結構，由底部燈箱產生準直平行光源，經待測透鏡或鏡頭模組會聚，形成焦點，再通過高精度一維移動平臺，帶動相機尋找焦點，確定焦點位置，并通過軟件計算焦距和數值孔徑。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明的結構示意圖；

圖2為本發明的光路示意圖。

圖中：1、立柱 2、粗調導軌 3、移動平臺 4、相機

5、燈箱 6、平移臺 7、樣品夾具

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本發明的具體實施方式作進一步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本發明的技術方案，而不能以此來限制本發明的保護范圍。

如圖1所示，本發明是一種數值孔徑測試系統，包括立柱1、粗調導軌2、移動平臺3和相機4，立柱1上設有粗調導軌2，粗調導軌2上設有移動平臺3，移動平臺3上設有相機4，粗調導軌2帶動移動平臺3移動，移動平臺3帶動相機4移動，還包括燈箱5，燈箱5設于移動平臺3下。燈箱5提供系統準直平行光。通過粗調和精調的方式可以快速找到焦點位置。

還包括平移臺6和樣品夾具7，平移臺6上設有樣品夾具7，樣品夾具7設于相機4下方。燈箱5上設有平移臺6。

樣品夾具7為三爪自準心結構用于固定樣品。移動平臺3為高精度一維移動平臺。高精度一維移動平臺可以進行上下移動控制，并實時顯示距離樣品距離。