[發明專利]用于預測壁厚減薄量的方法、程序及裝置

在審

• 申請號: 202110994616.5
• 申請日: 2021-08-27
• 公開（公告）號: CN114117656A
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 神山直樹;田村昌久;松岡慶;野口學;天谷賢治
• 申請（專利權）人: 荏原環境工程株式會社;株式會社荏原制作所
• 主分類號: G06F30/17
• 分類號: G06F30/17;G06F30/27;G06F111/06
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 陳偉;劉偉志

1.一種用于預測壁厚減薄量的方法，由處理器執行，用于為了預測設施內所配置的部件的壁厚減薄而構建壁厚減薄模型，其中該壁厚減薄模型表現示出所述部件的壁厚減薄傾向的物理量的經時變化，所述用于預測壁厚減薄量的方法的特征在于，包括：

對為了調整所述壁厚減薄模型所包含的參數的概率分布而使用的超參數的先驗分布進行設定的步驟；

基于所述超參數的值和表示所述部件的壁厚減薄傾向的物理量的測量值，對計算所述測量值的似然的似然式進行設定的步驟；

對所述似然式適用貝葉斯定理，并根據所述超參數的先驗分布和表示所述部件的壁厚減薄傾向的物理量的測量值，計算所述超參數的后驗分布的步驟；以及

根據計算出的所述超參數的后驗分布構建所述壁厚減薄模型的步驟。

2.如權利要求1所述的用于預測壁厚減薄量的方法，其特征在于，

所述參數包含壁厚的測量結果所產生的測量誤差以及所述部件的初始壁厚中的至少一個。

3.如權利要求2所述的用于預測壁厚減薄量的方法，其特征在于，

所述初始壁厚的概率分布為正態分布，所述測量誤差的概率分布為正態分布，所述超參數包含所述初始壁厚的平均值、所述初始壁厚的標準偏差、所述測量誤差的平均值和所述測量誤差的標準偏差。

4.如權利要求3所述的用于預測壁厚減薄量的方法，其特征在于，

所述壁厚減薄模型由兩個以上的階段構成，所述參數包含所述階段切換的經過時間。

5.如權利要求4所述的用于預測壁厚減薄量的方法，其特征在于，

所述經過時間的概率分布為泊松分布，所述超參數包含在給定區間內發生的事件的期待發生次數。

6.如權利要求5所述的用于預測壁厚減薄量的方法，其特征在于，

在各個所述階段中，所述部件的壁厚減薄傾向相對于時間呈直線近似，所述參數包含作為第1階段的所述直線的斜率的第1壁厚減薄速度、和作為第2階段的所述直線的斜率的第2壁厚減薄速度。

7.如權利要求6所述的用于預測壁厚減薄量的方法，其特征在于，

所述第1壁厚減薄速度的概率分布及所述第2壁厚減薄速度的概率分布為伽瑪分布，所述超參數包含第1壁厚減薄速度的形狀參數、第1壁厚減薄速度的尺度參數、第2壁厚減薄速度的形狀參數和第2壁厚減薄速度的尺度參數。