[發明專利]反射式太赫茲時域光譜復合材料自參考光學參量測量方法

在審

• 申請號: 202110992712.6
• 申請日: 2021-08-27
• 公開（公告）號: CN114152588A
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發明（設計）人: 劉增華;滿潤昕;王可心;吳育衡
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: G01N21/3586
• 分類號: G01N21/3586;G01N21/01
• 代理公司: 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203
• 代理人: 沈波

1.反射式太赫茲時域光譜復合材料自參考光學參量測量方法，其特征在于：(1)可消除傳統解析公式法中不能完全保證參考面與樣品共面而造成的固有相移誤差；(2)以材料自身反射信號作為參考信號和樣品信號，獲取折射率、消光系數和吸收系數方法更便利；(3)可減小由于多次實驗而造成的噪聲疊加。

2.根據權利要求1所述的反射式太赫茲時域光譜復合材料自參考光學參量測量方法，其特征在于：采用反射式太赫茲時域光譜在太赫茲脈沖垂直入射的條件下獲取待測樣品時域信號，以材料前表面的反射信號作為參考信號E_ref(ω)，材料下表面的反射信號作為樣品信號E_sam(ω)。對參考信號及樣品信號進行濾波降噪，分別進行了傅里葉變換以獲得其頻域譜

3.根據權利要求1所述的反射式太赫茲時域光譜復合材料自參考光學參量測量方法，其特征在于：太赫茲波在樣品中的傳遞函數由太赫茲波入射到樣品前表面的反射系數r₁₂，空氣到樣品中的透射系數t₁₂，樣品到空氣中的透射系數t₂₁，樣品底面的反射系數r₂₁及電磁波在介質中傳播距離L時的相位變化量決定，如式(1)所示。

4.根據權利要求1所述的反射式太赫茲時域光譜復合材料自參考光學參量測量方法，其特征在于：依據理論傳遞函數得到折射率、消光系數的精確解。

5.根據權利要求1所述的反射式太赫茲時域光譜復合材料自參考光學參量測量方法，其特征在于：考慮空氣折射率近似為1，由于待測樣品中n＞＞κ，可得到計算得到折射率、消光系數和吸收系數的近似解。

6.根據權利要求1所述的反射式太赫茲時域光譜復合材料自參考光學參量測量方法，其特征在于：通過實驗獲得的傳遞函數計算折射率、消光系數和吸收系數的初值，將初值帶入迭代算法中，直到近似解與精確解達到設定的最小誤差即可輸出最佳折射率、消光系數和吸收系數。