[發明專利]一種基于生產環境數據的電子元件性能預測方法

在審

• 申請號: 202110990602.6
• 申請日: 2021-08-26
• 公開（公告）號: CN113687166A
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發明（設計）人: 范建初;張濤;蔣天勇
• 申請（專利權）人: 范建初
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 廈門原創專利事務所(普通合伙) 35101
• 代理人: 黃燦林

本發明提供的一種基于生產環境數據的電子元件性能預測方法，涉及電子元件技術領域。在本發明中，基于獲取的目標生產設備的多條生產設備狀態數據，確定所述目標生產設備的目標設備狀態信息，其中，每一條生產設備狀態數據用于表征目標生產設備在生產目標電子元件的過程中的設備狀態；在目標設備狀態信息表征目標生產設備的設備狀態滿足預先配置的狀態條件時，對多條生產設備狀態數據進行解析得到多條生產設備狀態數據對應的設備狀態標準度信息；基于設備狀態標準度信息對目標電子元件的元件性能進行預測處理，得到目標電子元件對應的性能預測結果；如此，可以改善現有技術中對元件性能進行確定時存在的效率較低的問題。

技術領域

本發明涉及電子元件技術領域，具體而言，涉及一種基于生產環境數據的電子元件性能預測方法。

背景技術

電子元件(electronic component)，是電子電路中的基本元素，通常是個別封裝，并具有兩個或以上的引線或金屬接點。電子元件須相互連接以構成一個具有特定功能的電子電路，例如:放大器、無線電接收機、振蕩器等，連接電子元件常見的方式之一是焊接到印刷電路板上。電子元件也許是單獨的封裝(電阻器、電容器、電感器、晶體管、二極管等)，或是各種不同復雜度的群組，例如:集成電路(運算放大器、排阻、邏輯門等)。

其中，隨著對應用的電子電路的精度需求的逐步提升，對電子電路包括的電子元件的性能需求也逐步提升。因而，需要有效保障生產的電子元件具有較佳的性能。其中，對于性能較佳的電子元件，也需要進一步分類，因而，需要確定出具體的性能差異。但是，在現有技術中，一般是基于專門的性能檢測設備進行性能檢測，如此，可能會導致效率較低的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種基于生產環境數據的電子元件性能預測方法，以改善現有技術中對元件性能進行確定時存在的效率較低的問題。

為實現上述目的，本發明實施例采用如下技術方案：

一種基于生產環境數據的電子元件性能預測方法，應用于數據處理服務器，所述電子元件性能預測方法包括：

基于獲取的目標生產設備的多條生產設備狀態數據，確定所述目標生產設備的目標設備狀態信息，其中，所述目標生產設備用于生產目標電子元件，每一條所述生產設備狀態數據用于表征所述目標生產設備在生產所述目標電子元件的過程中的設備狀態；

在所述目標設備狀態信息表征所述目標生產設備的設備狀態滿足預先配置的狀態條件時，對所述多條生產設備狀態數據進行解析得到所述多條生產設備狀態數據對應的設備狀態標準度信息；

基于所述設備狀態標準度信息對所述目標電子元件的元件性能進行預測處理，得到所述目標電子元件對應的性能預測結果。

在一些優選的實施例中，在上述基于生產環境數據的電子元件性能預測方法中，所述在所述目標設備狀態信息表征所述目標生產設備的設備狀態滿足預先配置的狀態條件時，對所述多條生產設備狀態數據進行解析得到所述多條生產設備狀態數據對應的設備狀態標準度信息的步驟，包括：

在所述目標設備狀態信息表征所述目標生產設備的設備狀態滿足預先配置的狀態條件時，計算所述多條生產設備狀態數據的平均值，得到所述多條生產設備狀態數據對應的數據平均值；

基于所述數據平均值對所述多條生產設備狀態數據進行離散度計算處理，得到所述多條生產設備狀態數據對應的數據離散值，并基于所述數據離散值確定所述多條生產設備狀態數據對應的設備狀態標準度信息。

在一些優選的實施例中，在上述基于生產環境數據的電子元件性能預測方法中，所述基于所述數據平均值對所述多條生產設備狀態數據進行離散度計算處理，得到所述多條生產設備狀態數據對應的數據離散值，并基于所述數據離散值確定所述多條生產設備狀態數據對應的設備狀態標準度信息的步驟，包括：