[發明專利]提高電阻抗成像準確性的方法、系統、裝置和存儲介質在審
| 申請號: | 202110987158.2 | 申請日: | 2021-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN113808230A | 公開(公告)日: | 2021-12-17 |
| 發明(設計)人: | 徐向民;鄭慧敏;花浩鏹;熊奇偉 | 申請(專利權)人: | 華南理工大學 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00;G06N3/04;G06N3/08;G06K9/62;A61B5/00;A61B5/0536 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 鄭宏謀 |
| 地址: | 510641 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 提高 阻抗 成像 準確性 方法 系統 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種提高電阻抗成像準確性的方法,其特征在于,包括以下步驟:
輸入電流信息,采集電壓信息,根據所述電流信息和所述電壓信息獲取電導率信息;
根據所述電導率信息構建獲得電導率圖像;
將電導率圖像輸入預設的神經網絡進行圖像重建,輸出重建區域以及置信度;
在不同時間上依次輸入n次電流信息后,獲得n個重建區域以及與重建區域對應的置信度;
根據置信度獲取最優的重建區域作為最終的電阻抗成像結果。
2.根據權利要求1所述的一種提高電阻抗成像準確性的方法,其特征在于,所述置信度通過以下方式獲得:
獲取經過所述神經網絡中的softmax函數,將輸出中的最大值作為置信度。
3.根據權利要求1所述的一種提高電阻抗成像準確性的方法,其特征在于,所述神經網絡為分類模型,所述分類模型的分類結果的表達式為:
P,C=F(I,θ),∑pi=1 C∈(0,1)
其中,pi代表分類的概率;C代表神經網絡輸出的置信度,用于表征對分類結果的把握度;pi通過神經網絡最后一層softmax函數得到。
4.根據權利要求3所述的一種提高電阻抗成像準確性的方法,其特征在于,所述置信度通過以下方式獲得:
在神經網絡中設置一條置信度路徑,以及根據置信度路徑設置損失函數Lc;
將損失函數Lc與神經網絡的原始損失Ls進行結合,獲得總損失函數;
采用總損失函數對神經網絡進行訓練,并在訓練后,獲取損失函數Lc的值作為置信度;其中,當神經網絡輸出的重建區域正確時,損失函數Lc的值近于0;當神經網絡輸出的重建區域錯誤時,損失函數Lc的值近于1。
5.根據權利要求4所述的一種提高電阻抗成像準確性的方法,其特征在于,在神經網絡中添加置信度路徑后,神經網絡輸出的表達式如下:
p′=C*p+(1-C)*Y
其中,Y為目標分類結果;C代表神經網絡輸出的置信度;利用交叉熵損失函數計算原始損失Ls;
損失函數Lc的計算公式如下:
Lc=sigmoid(-log(C))
當置信度趨近于1時,損失函數Lc的值近于0;當置信趨近于0時,損失函數Lc的值近于1。
6.根據權利要求1所述的一種提高電阻抗成像準確性的方法,其特征在于,所述根據置信度獲取最優的重建區域作為最終的電阻抗成像結果,包括:
獲取最大的置信度對應的重建區域作為最終的電阻抗成像結果。
7.根據權利要求1所述的一種提高電阻抗成像準確性的方法,其特征在于,所述根據置信度獲取最優的重建區域作為最終的電阻抗成像結果,包括:
將n個置信度進行降序排列,獲取前m個置信度以及m個置信度對應的重建區域;
獲取m個重建區域之間交叉的區域,作為重疊區域;
獲取包含最多重疊區域面積對應的重建區域,作為最終的電阻抗成像結果。
8.一種提高電阻抗成像準確性的系統,其特征在于,包括:
信息采集模塊,用于輸入電流信息,采集電壓信息,根據所述電流信息和所述電壓信息獲取電導率信息;
構圖模塊,用于根據所述電導率信息構建獲得電導率圖像;
圖像重構模塊,用于將電導率圖像輸入預設的神經網絡進行圖像重建,輸出重建區域以及置信度;
重復構圖模塊,用于在不同時間上依次輸入n次電流信息后,獲得n個重建區域以及與重建區域對應的置信度;
圖像選擇模塊,用于根據置信度獲取最優的重建區域作為最終的電阻抗成像結果。
9.一種提高電阻抗成像準確性的裝置,其特征在于,包括:
至少一個處理器;
至少一個存儲器,用于存儲至少一個程序;
當所述至少一個程序被所述至少一個處理器執行,使得所述至少一個處理器實現權利要求1-7任一項所述方法。
10.一種存儲介質,其中存儲有處理器可執行的程序,其特征在于,所述處理器可執行的程序在由處理器執行時用于執行如權利要求1-7任一項所述方法。
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