[發明專利]一種碲化鎘梯度吸收層的制備方法及太陽電池在審
| 申請號: | 202110986532.7 | 申請日: | 2021-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN113745359A | 公開(公告)日: | 2021-12-03 |
| 發明(設計)人: | 沈凱;劉嬌;麥耀華;周逸良;鮑飛雄;王新龍 | 申請(專利權)人: | 暨南大學 |
| 主分類號: | H01L31/0296 | 分類號: | H01L31/0296;H01L31/0445;H01L31/18 |
| 代理公司: | 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245 | 代理人: | 雷月華 |
| 地址: | 510632 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 碲化鎘 梯度 吸收 制備 方法 太陽電池 | ||
1.一種碲化鎘梯度吸收層的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:在硒源層上沉積CdTe薄膜,當CdTe薄膜沉積完成后進行快速超高溫擴散反應過程,然后進行激活熱處理工藝,制得所述碲化鎘梯度吸收層;所述快速超高溫擴散反應過程是指在CdTe薄膜沉積完成后,將沉積得到的薄膜疊層快速升溫至550~620℃的高溫,在高壓氮氣或惰性氣體環境下,保持時間為1~20min,然后快速降溫;其中,快速升溫和快速降溫過程分別滿足:300℃至平臺溫度或平臺溫度降至300℃在1分鐘內完成,平臺溫度為550~620℃。
2.根據權利要求1所述一種碲化鎘梯度吸收層的制備方法,其特征在于,所述快速超高溫擴散反應過程中的氣壓應控制在50~80kPa。
3.根據權利要求1所述一種碲化鎘梯度吸收層的制備方法,其特征在于,所述激活熱處理工藝,是指將沉積了薄膜層的樣品置于含CdCl2或MgCl2環境下進行熱處理,熱處理溫度為350~450℃,熱處理時間為10~30min。
4.根據權利要求1所述一種碲化鎘梯度吸收層的制備方法,其特征在于,所述CdTe薄膜沉積方法包括真空熱蒸發法、近空間升華法、磁控濺射法、氣相輸運法、分子束外延法、熱壁沉積法、電子束沉積法、電化學沉積法或化學水浴法,厚度為1~5μm,沉積溫度為500~650℃。
5.一種碲化鎘太陽電池,其特征在于,其主要通過以下步驟制備得到:
(1)對帶有透明導電層的玻璃襯底進行清洗;
(2)在襯底上沉積n型緩沖層;
(3)在n型緩沖層上沉積硒源層;
(4)按照權利要求1-4任一項所述方法在硒源層上制備p型吸收層;
(5)在p型吸收層薄膜表面沉積背接觸層;
(6)在背接觸層上沉積背電極。
6.根據權利要求5所述的一種碲化鎘太陽電池,其特征在于,所述透明導電層為透明導電氧化物層,包括Cd2SnO4或SnO2:F,厚度為200~400nm。
7.根據權利要求5所述的一種碲化鎘太陽電池,其特征在于,所述n型緩沖層為n型半導體薄膜或n型半導體薄膜疊層,包括MgZnO、CdS、摻氧硫化鎘、ZnO、SnO2、ZnSnO4中的一種以上;緩沖層厚度為20~200nm。
8.根據權利要求5所述的一種碲化鎘太陽電池,其特征在于,所述硒源層包括CdTeSe或CdSe;硒源層厚度為50~150nm;
所述硒源層制備方法包括真空熱蒸發法、近空間升華法、磁控濺射法、氣相輸運法、分子束外延法、熱壁沉積法、電子束沉積法、電化學沉積法或化學水浴法。
9.根據權利要求5所述的一種碲化鎘太陽電池,其特征在于,所述背接觸層為高功函數緩沖層,厚度為5~100nm;所述的高功函數緩沖層可為金屬碲化物或過渡金屬氧化物。
10.根據權利要求5所述的一種碲化鎘太陽電池,其特征在于,所述背電極為高功函數的導電電極,包括金屬背電極或石墨,當背電極層為金屬背電極時,厚度為50~500nm;當背電極層為石墨時,背電極厚度為1~10μm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





