[發(fā)明專利]一種基于螺旋諧振器的雙頻段無損介電常數(shù)測量傳感器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110984878.3 | 申請日: | 2021-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN113640587B | 公開(公告)日: | 2023-01-13 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉小明;張丹;俞碩;王曄;甘露;王海洋 | 申請(專利權)人: | 安徽師范大學 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 241000 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 螺旋 諧振器 雙頻 無損 介電常數(shù) 測量 傳感器 | ||
本發(fā)明公開一種基于螺旋諧振器的雙頻段無損介電常數(shù)測量傳感器,該傳感器為二端口器件,由介質層、金屬貼片層和接地層組成,該傳感器在1GHz?4GHz的頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生兩處諧振點,可實現(xiàn)在1.0GHz?2.0GHz和2.1GHz?3.1GHz兩個頻段的介電常數(shù)及介質損耗角正切的測量;本發(fā)明結構簡單,Q值高,靈敏度高,加工難度小,成本低。
技術領域
本發(fā)明屬于微波傳感器技術領域,具體是一種基于螺旋諧振器的雙頻段無損介電常數(shù)測量傳感器。
背景技術
介電常數(shù)是指電解質束縛電荷的能力,介電常數(shù)越大,束縛電荷的能力越強,材料的絕緣性能越好;介質損耗是指在外加電場的作用下,物體由于碰撞、摩擦和自身變熱下?lián)p耗的能量;隨著微波技術的快速發(fā)展,在實際應用中對于介質材料的選取越來越重要,而介電常數(shù)和介質損耗就是衡量介質材料性能的兩個重要參數(shù);例如,制造電容器的材料要求介電常數(shù)盡量大,介質損耗盡量小;相反地,制造儀表絕緣器件的材料則要求介電常數(shù)和介質損耗都盡量?。欢谀承┨厥馇闆r下,則要求材料的介質損耗較大;所以,通過測定介電常數(shù)及介質損耗角正切,可進一步了解影響介電常數(shù)和介質損耗的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。
在實際應用中,表征材料的介電常數(shù)和介質損耗角正切大多采用基于SRR或CSRR的微波傳感器,但是,此類型的微波傳感器在加載不同介質材料的待測樣品時,測試結果受待測樣品的厚度影響較大,因此當待測樣品厚度不同時,通過測試結果反演得出的介電常數(shù)和介質損耗角正切可能差異較大;此外,該類型的微波傳感器諧振頻率點的S21幅值通常較小,因此由S21幅值計算得到的品質因數(shù)也較小,使得微波傳感器的縱向靈敏度受到了限制。
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的:針對背景技術中提到的問題,本發(fā)明提出一種基于螺旋諧振器的雙頻段無損介電常數(shù)測量傳感器,此傳感器在1GHz-4GHz的頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生兩處諧振點,可實現(xiàn)在1.0GHz-2.0GHz和2.1GHz-3.1GHz兩個頻段的介電常數(shù)及介質損耗角正切的測量;本發(fā)明結構簡單,Q值高,靈敏度高,加工難度小,成本低。
技術方案:為實現(xiàn)本發(fā)明目的,本發(fā)明采用的技術方案為:一種基于螺旋諧振器的雙頻段無損介電常數(shù)測量傳感器,該傳感器為二端口器件,由介質層、金屬貼片層和接地層組成,其特征在于,所述傳感器從下到上依次包括接地層(3)、介質層(2)、金屬貼片層(1);所述接地層鋪設在介質層下表面,并刻蝕有兩個刻槽金屬螺旋結構;所述金屬貼片層鋪設在介質層上表面,包括一段微帶傳輸線、兩塊方形金屬貼片。
進一步的,所述接地層(3)和金屬貼片層(1)的厚度為0.017mm,可在0mm-0.02mm浮動 ,金屬材料可以是具有與金、銀、銅相當導電率的導電材料。
進一步的,所述介質層(2)尺寸為50mm×30mm×1.6mm,采用FR4材料,介電常數(shù)為4.3,損耗正切值為0.02。
進一步的,所述接地層(3)中左側刻槽金屬螺旋結構尺寸為6mm×6mm,由8段刻槽矩形構成,每段刻槽矩形的寬度均為0.5mm,相鄰刻槽矩形的間距為0.5mm。
進一步的,所述接地層(3)中右側刻槽金屬螺旋結構尺寸為4.2mm×4.2mm,由8段刻槽矩形構成,每段刻槽矩形的寬度均為0.35mm,相鄰刻槽矩形的間距為0.35mm。
進一步的,所述金屬貼片層中微帶傳輸線長度為50mm,寬度為3mm,方形金屬貼片的邊長為6mm。
進一步的,所述方形金屬貼片與刻槽金屬螺旋結構均為正方形,二者的中心點關于介質基板對稱。
進一步的,待測樣品放置于刻槽金屬螺旋結構正上方。
1、本發(fā)明具有兩個工作頻段,分別為1.0GHz-2.0GHz和2.1GHz-3.1GHz,每個工作頻段均可對待測樣品的介電常數(shù)及介質損耗角正切值進行測量,且對于不同厚度的待測樣品,測量的結果幾乎相同。
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